Measurment of branching fractions and search for CP violation in D-0 -> pi(+)pi(-)eta, D-0 -> K+K-eta, and D-0 -> phi eta at Belle

Li, L. K.; Schwartz, A. J.; Kinoshita, K.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Branchini, P.; Browder, T. E.; Budano, A.; Campajola, M.; Cervenkov, D.; Chang, M-C; Chang, P.; Chekelian, V.; Chen, A.; Chen, Y. Q.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S.-J.; Choi, S-K; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; De Pietro, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Graziani, E.; Gu, T.; Guan, Y.; Hadjivasiliou, C.; Halder, S.; Hayasaka, K.; Hou, W-S; Inami, K.; Ishikawa, A.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jang, E.-J.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kiesling, C.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, K-H; Kim, S. H.; Kim, Y.-K.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, M.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lalwani, K.; Laurenza, M.; Lee, S. C.; Li, C. H.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Masuda, M.; Matvienko, D.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mori, T.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ono, H.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, S-H; Passeri, A.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shen, C. P.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, K.; Uno, S.; Vahsen, S. E.; Tonder, R. van; Varner, G.; Vinokurova, A.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Wang, X. L.; Watanuki, S.; Won, E.; Yabsley, B. D.; Yan, W. B.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V. und Zhukova, V. (2021): Measurment of branching fractions and search for CP violation in D-0 -> pi(+)pi(-)eta, D-0 -> K+K-eta, and D-0 -> phi eta at Belle. In: Journal of High Energy Physics, Nr. 9, 75

Abstract

We measure the branching fractions and CP asymmetries for the singly Cabibbo-suppressed decays D-0 -> pi(+)pi(-)eta, D-0 -> K+K-eta, and D-0 -> phi eta, using 980 fb(-1) of data from the Belle experiment at the KEKB e(+)e(-) collider. We obtain B(D-0 -> pi+pi-eta) = [1.22 +/- 0.02 (stat) +/- 0.02 (syst) +/- 0.03 (B-ref)] x 10(-3), B(D-0 -> K+K-eta) = [1.801(-0.06)(+0.07) (stat) +/- 0.04 (syst) +/- 0.05 (B-ref)] x 10(-4), B(D-0 -> phi eta) = [1.84 +/- 0.09 (stat) +/- 0.06 (syst) +/- 0.05 (B-ref)] x 10(-4), where the third uncertainty (B-ref) is from the uncertainty in the branching fraction of the reference mode D-0 -> K-pi(+)eta. The color-suppressed decay D-0 -> phi eta is observed for the first time, with very high significance. The results for the CP asymmetries are A(CP) (D-0 -> pi(+)pi(-)eta) = [0.9 +/- 1.2 (stat) +/- 0.5 (syst)]%, A(CP)(D-0 -> K+K-eta)=[-1.4 +/- 3.3 (stat) +/- 1.1 (syst)]%, A(CP)(D-0 -> phi eta) = [-1.9 +/- 4.4 (stat) +/- 0.6 (syst)]%. The results for D-0 -> pi(+)pi(-)eta are a significant improvement over previous results. The branching fraction and Acp results for D-0 -> K+K-eta, and the A(CP) result for D-0 -> phi eta, are the first such measurements. No evidence for CP violation is found in any of these decays.

• Dokumententyp: Zeitschriftenartikel
• Fakultät: Physik
• Themengebiete: 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
• ISSN: 1029-8479
• Sprache: Englisch