Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German

Li, S. X.; Li, L. K.; Shen, C. P.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Behera, P.; Belous, K.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bodrov, D.; Borah, J.; Bozek, A.; Bracko, M.; Branchini, P.; Browder, T. E.; Budano, A.; Campajola, M.; Cervenkov, D.; Chang, M-C; Chang, P.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S.-J.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; De Nardo, G.; De Pietro, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Graziani, E.; Gu, T.; Guan, Y.; Gudkova, K.; Hadjivasiliou, C.; Halder, S.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W-S; Hsu, C.-L.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Kato, Y.; Kichimi, H.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, K.-H.; Kim, K. T.; Kim, Y-K; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kwon, Y.-J.; Lai, Y.-T.; Lange, J. S.; Laurenza, M.; Lee, S. C.; Li, J.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pang, T.; Park, H.; Park, S.-H.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rohrken, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shiu, J.-G.; Simon, F.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, K.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Tonder, R. van; Varner, G.; Vinokurova, A.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, E.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Won, E.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V. and Zhukova, V. (2021): Measurement of the branching fraction of Lambda(+)(c) -> p omega decay at Belle. In: Physical Review D, Vol. 104, No. 7, 72008

Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

Using 980.6 fb(-1) of data collected with the Belle detector operating at the KEKB asymmetric-energy e(+)e(-), we present a measurement of the branching fraction of the singly Cabibbo-suppressed decay Lambda(+)(c) -> p omega. A clear Lambda(+)(c) signal is observed for Lambda(+)(c) -> p omega with a statistical significance of 9.1 standard deviations, and we measure the ratio of branching fractions B(Lambda(+)(c) -> p omega)/Bo(Lambda(+)(c) -> p omega)/B(Lambda(+)(c) -> pK(-)pi(+)) = (1.32 +/- 0.12(stat) +/- 0.10(syst)) x 10(-2), from which we infer the branching fraction, B(Lambda(+)(c) -> p omega) = (8.27 +/- 0.75(stat) +/- 0.62(syst) +/- 0.42(ref) x 10(-4). The first quoted uncertainty is statistical, the second systematic, and the third from the reference mode Lambda(+)(c) -> pK(-) pi(+).

Actions (login required)

View Item View Item