Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German

Li, S. X.; Shen, C. P.; Adachi, I.; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Bennett, J.; Bernlochner, F.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bozek, A.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Chang, M.-C.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Grzymkowska, O.; Gudkova, K.; Hadjivasiliou, C.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Hou, W-S; Hsu, C.-L.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jang, E.-J.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, C. W.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kato, Y.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kim, B. H.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, K-H; Kim, S. H.; Kim, Y-K; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, M.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lalwani, K.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Li, C. H.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Metzner, F.; Mizuk, R.; Mohanty, S.; Mori, T.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, L.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pang, T.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S-H; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rohrken, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shebalin, V.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Solovieva, E.; Stottler, Z. S.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uehara, S.; Uglov, T.; Uno, K.; Uno, S.; Urquijo, P.; Tonder, R. van; Varner, G.; Vossen, A.; Wang, C. H.; Wang, E.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanuki, S.; Won, E.; Xu, X.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V. and Zhulanov, V. (2021): Measurements of the branching fractions of Lambda(+)(c) -> p eta and Lambda(+)(c) -> p pi(0) decays at Belle. In: Physical Review D, Vol. 103, No. 7, 72004

Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

We report measurements of the branching fractions of singly Cabibbo-suppressed decays Lambda(+)(c) -> p eta and Lambda(+)(c) -> p pi(0) using the full Belle data sample corresponding to an integrated luminosity of 980.6 fb(-1). The data were collected by the Belle detector at the KEKB e(+) e(-) asymmetric energy collidcr. A clear Lambda(+)(c) signal is seen in the invariant mass distribution of p eta. The fitted number of signal events of the Lambda(+)(c) -> p eta process is 7734 +/- 263;from this, we measure the ratio of branching fractions B(Lambda(+ )(c) -> p eta)/ B(Lambda(+)(c) -> p K- pi(+)) = [2.258 +/- 0.077(stat) +/- 0.122(syst)] x 10(-2), from which we infer the branching fraction B(Lambda(+)(c) -> p eta) = [1.42 +/- 0.05(stat) +/- 0.11(syst)] x 10(-3). In addition, no significant signal for Lambda(+)(c)-> p pi(0) is found, so an upper limit on the branching fraction of B(Lambda(+)(c) -> p eta(0)) < 8.0 x 10(-5) at a 90% credibility level is set, more than 3 times better than the best current upper limit.

Actions (login required)

View Item View Item