Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

McNeil, J. T.; Yelton, J.; Bennett, J.; Adachi, I.; Adamczyk, K.; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Bessner, M.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chang, P.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Cho, S-J; Choi, S-K; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Grzymkowska, O.; Guan, Y.; Gudkova, K.; Hadjivasiliou, C.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Huang, K.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jacobs, W. W.; Jeon, H. B.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kichimi, H.; Kim, B. H.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, S. H.; Kim, Y.-K.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Konno, T.; Korpar, S.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumar, M.; Kumara, K.; Kwon, Y-J; Lalwani, K.; Lee, S. C.; Li, J.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liptak, Z.; Liventsev, D.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mohanty, S.; Moon, T. J.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S-H; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Roehrken, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shebalin, V.; Shiu, J.-G.; Simon, F.; Solovieva, E.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uehara, S.; Unno, Y.; Uno, S.; Tonder, R. van; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vorobyev, V.; Wang, C. H.; Wang, E.; Wang, M-Z; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Won, E.; Xu, X.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Ye, H.; Yin, J. H.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V. und Zhukova, V. (2021): Measurement of the resonant and nonresonant branching ratios in Xi(0)(c) -> Xi K-0(+) K-. In: Physical Review D, Bd. 103, Nr. 11, 112002

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

Using the entire data sample of 980 fb(-1) integrated luminosity collected with the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+)e(-) collider, we present an amplitude analysis measuring the branching fractions of the Cabibbo-allowed, W-exchange resonant decay Xi(0)(c) -> Xi(0) phi (-> K+K-) with a polarized. and the nonresonant decay via a direct process Xi(0)(c) -> Xi(K+K-)-K-0. We present these measurements, relative to the normalization mode Xi(-)pi(+), and find branching ratios Xi(0)(c) -> Xi(0) phi (-> K+K-))(B Xi(0)(c) -> Xi(-)pi(+)) = 0.036 +/- 0.004(sta.) +/- 0.002(syst.) and (B Xi(0)(c) -> Xi(-)K(+)k(-))/(B Xi(0)(c) -> Xi(-)pi(+)) = 0.039 +/- 0.004(stat.) +/- 0.002(syst.), which suggest that only minor cusping peaks occur in the combinatorial background of Omega(*-) ->Xi K-0(-) due to these Xi(0)(c) decays.

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten