Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Uno, K.; Hayasaka, K.; Inami, K.; Adachi, I.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bennett, J.; Bernlochner, F.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Campajola, M.; Cervenkov, D.; Chang, M-C; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S.-J.; Choi, S-K; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Di Capua, F.; Dingfelder, J.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Hadjivasiliou, C.; Hara, T.; Hartbrich, O.; Hayashii, H.; Villanueva, M. Hernandez; Hou, W-S; Hsu, C.-L.; Iijima, T.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jacobs, W. W.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kang, K. H.; Kato, Y.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, K.-H.; Kim, S. H.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, M.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lai, Y.-T.; Lange, J. S.; Lee, S. C.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuoka, K.; Matvienko, D.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Nakao, M.; Nakazawa, H.; Natochii, A.; Nayak, L.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, K.; Ogawa, S.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S.-H.; Paul, S.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rohrken, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Sharma, C.; Shen, C. P.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Simon, F.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Ushiroda, Y.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Tonder, R. van; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vossen, A.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, E.; Wang, M-Z; Wang, X. L.; Werbycka, O.; Won, E.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V. und Zhukova, V. (2021): Search for lepton-flavor-violating tau-lepton decays to l gamma at Belle. In: Journal of High Energy Physics, Nr. 10, 19

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

Charged lepton flavor violation is forbidden in the Standard Model but possible in several new physics scenarios. In many of these models, the radiative decays tau(+/-) -> l(+/-)gamma (l = e, mu) are predicted to have a sizeable probability, making them particularly interesting channels to search at various experiments. An updated search via tau(+/-) -> l(+/-)gamma using full data of the Belle experiment, corresponding to an integrated luminosity of 988 fb(-1), is reported for charged lepton flavor violation. No significant excess over background predictions from the Standard Model is observed, and the upper limits on the branching fractions, B(tau(+/-) -> mu(+/-)gamma) <= 4.2 x 10(-8) and B(tau(+/-) -> e(+/-)gamma) <= 5.6 x 10(-8), are set at 90% confidence level.

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten