Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Wehle, S.; Adachi, I.; Adamczyk, K.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Behera, P.; Berger, M.; Bhardwaj, V.; Biswal, J.; Bozek, A.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Chang, M-C; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; Di Capua, F.; Dubey, S.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Greenwald, D.; Guan, Y.; Haba, J.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Higuchi, T.; Hou, W-S; Hsu, C.-L.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Kahn, J.; Kaliyar, A. B.; Karyan, G.; Kichimi, H.; Kim, D. Y.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kim, Y.-K.; Kinoshita, K.; Komarov, I.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Lee, J. Y.; Lee, S. C.; Li, Y. B.; Libby, J.; Liptak, Z.; Liventsev, D.; Luo, T.; MacNaughton, J.; Masuda, M.; Matsuda, T.; McNeil, J. T.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, T. J.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natochii, A.; Nayak, M.; Niebuhr, C.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Park, H.; Park, S.-H.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Resmi, P. K.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Solovieva, E.; Strube, J. F.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S. E.; Tonder, R. van; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vorobyev, V.; Wang, C. H.; Wang, M-Z; Wang, P.; Wang, X. L.; Won, E.; Xu, X.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V. und Zhulanov, V. (2021): Test of Lepton-Flavor Universality in B -> K*l(+)l(-) Decays at Belle. In: Physical Review Letters, Bd. 126, Nr. 16, 161801

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

We present a measurement of R-K(*), the branching fraction ratio B(B -> K* mu(+)mu(-))/B(B -> K* e(+) e(-)), for both charged and neutral B mesons. The ratio for the charged case RK*+ is the first measurement ever performed. In addition, we report absolute branching fractions for the individual modes in bins of the squared dilepton invariant mass q(2). The analysis is based on a data sample of 711 fb(-1), containing 772 x 10(6) B (B) over bar events, recorded at the Upsilon(4S) resonance with the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+)e(-) collider. The obtained results are consistent with standard model expectations.

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten