Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German

Yelton, J.; Adachi, I.; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Belous, K.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bozek, A.; Bracko, M.; Branchini, P.; Browder, T. E.; Budano, A.; Campajola, M.; Cervenkov, D.; Chang, M.-C.; Chang, P.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S.-J.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; De Pietro, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Dingfelder, J.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Graziani, E.; Gu, T.; Gudkova, K.; Hadjivasiliou, C.; Hara, T.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Kato, Y.; Kiesling, C.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, K.-H.; Kim, S. H.; Kim, Y.-K.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumara, K.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Laurenza, M.; Lee, S. C.; Li, J.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; McNeil, J. T.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, T. J.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S.-H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shen, C. P.; Shiu, J.-G.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Tonder, R. van; Varner, G.; Vinokurova, A.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, D.; Wang, E.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Won, E.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V. and Zhukova, V. (2021): Measurement of the masses and widths of the Sigma(c)(2455)(+) and Sigma(c)(2520)(+) baryons. In: Physical Review D, Vol. 104, No. 5, 52003

Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

Using 980 fb(-1) of data collected with the Belle detector operating at the KEKB asymmetric-energy ethorne-collider, we report the measurements of the masses, and the first measurements of the instrinsic widths, of the Sigma(c) (2455)(+) and Sigma(c)(2520)(+) charmed baryons. We find M(Sigma(c)(2455)(+)) - M(Lambda(+)(c)) = 166.17 +/- 0.05(-0.07)(+0.16) MeV/c(2), Gamma(Sigma(c) (2455)(+)) = 2.3 +/- 0.3 +/- 0.3 MeV/c(2), M(Sigma(c()2520)(+)) -M(Lambda(+)(c)) = 230.9 +/- 0.5(-0.1)(+0.5) MeV/c(2), and Gamma(Sigma(c()2520)(+)) = 17.2(-2.1)(-0.7)(+2.3)(+3.1) MeV/c(2), where the uncertainties are statistical and systematic, respectively. These measurements can be used to test models of the underlying quark structure of the Sc states.

Actions (login required)

View Item View Item