Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Yelton, J.; Adachi, I.; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Belous, K.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bozek, A.; Bracko, M.; Branchini, P.; Browder, T. E.; Budano, A.; Campajola, M.; Cervenkov, D.; Chang, M.-C.; Chang, P.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S.-J.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; De Pietro, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Dingfelder, J.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Graziani, E.; Gu, T.; Gudkova, K.; Hadjivasiliou, C.; Hara, T.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Kato, Y.; Kiesling, C.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, K.-H.; Kim, S. H.; Kim, Y.-K.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumara, K.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Laurenza, M.; Lee, S. C.; Li, J.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; McNeil, J. T.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, T. J.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S.-H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shen, C. P.; Shiu, J.-G.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Tonder, R. van; Varner, G.; Vinokurova, A.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, D.; Wang, E.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Won, E.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V. und Zhukova, V. (2021): Measurement of the masses and widths of the Sigma(c)(2455)(+) and Sigma(c)(2520)(+) baryons. In: Physical Review D, Bd. 104, Nr. 5, 52003

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

Using 980 fb(-1) of data collected with the Belle detector operating at the KEKB asymmetric-energy ethorne-collider, we report the measurements of the masses, and the first measurements of the instrinsic widths, of the Sigma(c) (2455)(+) and Sigma(c)(2520)(+) charmed baryons. We find M(Sigma(c)(2455)(+)) - M(Lambda(+)(c)) = 166.17 +/- 0.05(-0.07)(+0.16) MeV/c(2), Gamma(Sigma(c) (2455)(+)) = 2.3 +/- 0.3 +/- 0.3 MeV/c(2), M(Sigma(c()2520)(+)) -M(Lambda(+)(c)) = 230.9 +/- 0.5(-0.1)(+0.5) MeV/c(2), and Gamma(Sigma(c()2520)(+)) = 17.2(-2.1)(-0.7)(+2.3)(+3.1) MeV/c(2), where the uncertainties are statistical and systematic, respectively. These measurements can be used to test models of the underlying quark structure of the Sc states.

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten