Waheed, E.; Urquijo, P.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Belous, K.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bodrov, D.; Borah, J.; Bozek, A.; Bracko, M.; Branchini, P.; Browder, T. E.; Budano, A.; Campajola, M.; Cervenkov, D.; Chang, M.-C.; Chang, P.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S.-J.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; De Nardo, G.; De Pietro, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Graziani, E.; Gu, T.; Guan, Y.; Gudkova, K.; Hadjivasiliou, C.; Halder, S.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Kichimi, H.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, K.-H.; Kim, K. T.; Kim, Y.-K.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kumar, M.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kwon, Y.-J.; Lai, Y.-T.; Lange, J. S.; Laurenza, M.; Lee, S. C.; Li, J.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pang, T.; Park, H.; Park, S.-H.; Passeri, A.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rohrken, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shen, C. P.; Shiu, J.-G.; Simon, F.; Singh, J. B.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stottler, Z. S.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, K.; Uno, S.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Tonder, R. van; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vinokurova, A.; Wang, C. H.; Wang, E.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Wang, X. L.; Wiechczynski, J.; Won, E.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V. and Zhukova, V.
(2022):
Study of (B)over-bar(0) -> D(+)h(-) (h = K/pi) decays at Belle.
In: Physical Review D, Vol. 105, No. 1, 12003
Full text not available from 'Open Access LMU'.
Abstract
We present a measurement of the branching fractions of the Cabibbo favored (B) over bar (0) -> D+pi(-) and the Cabibbo suppressed (B) over bar (0) -> D+K- decays. We find B((B) over bar (0) -> D+pi(-)) = (2.48 +/- 0.01 +/- 0.09 +/- 0.04) x 10(-3) and B((B) over bar (0) -> D+K-) = (2.03 +/- 0.05 +/- 0.07 +/- 0.03) x 10(-4) decays, where the first uncertainty is statistical, the second is systematic, and the third uncertainty is due to the D+ -> K-pi(+)pi(+) branching fraction. The ratio of branching fractions of (B) over bar (0) -> D+K- and (B) over bar (0) -> D+pi(-) is measured to be R-D = [8.19 +/- 0.20(stat) +/- 0.23(syst)] x 10(-2). These measurements are performed using the full Belle dataset, which corresponds to 772 x 10(6) B (B) over bar pairs and use the Belle II software framework for data analysis.
Item Type: |
Journal article
|
Faculties: |
Physics |
Subjects: |
500 Science > 530 Physics |
ISSN: |
2470-0010 |
Language: |
English |
Item ID: |
113350 |
Date Deposited: |
02. Apr 2024, 07:47 |
Last Modified: |
02. Apr 2024, 07:47 |
Actions (login required)
- View Item