Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German

Wang, B.; Kinoshita, K.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bakich, A. M.; Behera, P.; Beleno, C.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Chen, A.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Di Capua, F.; Di Carlo, S.; Dolezal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Guan, Y.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W.-S.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, J. Y.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Luo, T.; MacNaughton, J.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mussa, R.; Nakao, M.; Nath, K. J.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pang, T.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S.-H.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shiu, J.-G.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Strube, J. F.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Uglov, T.; Uno, S.; Usov, Y.; Tonder, R. van; Varner, G.; Vinokurova, A.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Werbycka, O.; Won, E.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V. and Zhulanov, V. (2022): Measurement of B(B-s -> DsX) with B-s semileptonic tagging. In: Physical Review D, Vol. 105, No. 1, 12004

Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

We report the first direct measurement of the inclusive branching fraction B(B-s -> DsX) via B-s tagging in e(+)e(-) -> gamma(5S) events. Tagging is accomplished through a partial reconstruction of semileptonic decays B-s -> D(s)Xl nu, where X denotes unreconstructed additional hadrons or photons and l is an electron or muon. With 121.4 fb(-1) of data collected at the gamma(5S) resonance by the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+)e(-) collider, we obtain B(B-s -> DsX) = (60.2 +/- 5.8 +/- 2.3)%, where the first uncertainty is statistical and the second is systematic.

Actions (login required)

View Item View Item