Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Bhuyan, B.; Nath, K. J.; Borah, J.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bakich, A. M.; Behera, P.; Bennett, J.; Bhardwaj, V.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Di Capua, F.; Di Carlo, S.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Dubey, S.; Eidelman, S.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Haba, J.; Hara, T.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W.-S.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Lee, J. K.; Lee, J. Y.; Lee, S. C.; Li, C. H.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Lu, P.-C.; Luo, T.; MacNaughton, J.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakano, T.; Nakao, M.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pang, T.; Pardi, S.; Park, H.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Prencipe, E.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shen, C. P.; Shiu, J.-G.; Solovieva, E.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Tonder, R. van; Varner, G.; Vossen, A.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Wiechczynski, J.; Won, E.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V. und Zhukova, V. (2022): Search for the decay B-s(0) -> eta eta. In: Physical Review D, Bd. 105, Nr. 1, 12007

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

We report results from a search for the decay B-s(0) -> eta eta using 121.4 fb(-1) of data collected at the Upsilon(5S) resonance with the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+)e(-) collider. We do not observe any signal and set an upper limit on the branching fraction of 14.3 x 10(-5) at 90% confidence level. This result represents a significant improvement over the previous most stringent limit.

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten