Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Gao, X. Y.; Li, Y.; Shen, C. P.; Adachi, I.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Ayad, R.; Behera, P.; Belous, K.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Bobrov, A.; Bodrov, D.; Bonvicini, G.; Borah, J.; Bozek, A.; Browder, T. E.; Budano, A.; Campajola, M.; Chang, M.-C.; Chang, P.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S.-J.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; De Pietro, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Dingfelder, J.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Dossett, D.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Gu, T.; Guan, Y.; Gudkova, K.; Hadjivasiliou, C.; Halder, S.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jang, E.-J.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kahn, J.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, K.-H.; Kim, Y.-K.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lai, Y.-T.; Lam, T.; Lange, J. S.; Laurenza, M.; Lee, S. C.; Li, C. H.; Li, J.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Martini, A.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Maurya, S. K.; Meier, F.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, L.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pang, T.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S.-H.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rohrken, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schnell, G.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shiu, J.-G.; Simon, F.; Singh, J. B.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stanic, S.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uno, K.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Tonder, R. van; Varner, G.; Vinokurova, A.; Waheed, E.; Wang, E.; Wang, M.-Z.; Wang, X. L.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Won, E.; Xu, X.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Zhai, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V. und Zhukova, V. (2022): Search for tetraquark states X-ccss in D-s(+) D-s(+) (D-s*(+) D-s*(+)) final states at Belle. In: Physical Review D, Bd. 105, Nr. 3, 32002

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

A search for double-heavy tetraquark state candidates Xcc (x) over bar(s) over bar decaying to Ds+Ds+ and D-s*+D-s(*)+ is presented for the first time using the data samples of 102 x 106 Gamma and 158 x 10(6) Gamma(2S) events, and the data samples at root s = 10.52, 10.58, and 10.867 GeV corresponding to integrated luminosities of 89.5, 711.0, and 121.4 fb(-1), respectively, accumulated with the Belle detector at the KEKB asymmetric energy electron-positron collider. The invariant-mass spectra of the Ds+Ds+ and Ds*+Ds*+ are studied to search for possible resonances. No significant signals are observed, and the 90% confidence level upper limits on the product branching fractions [B(Gamma(1S, 2S) -> X-cc (x) over bar(s) over bar + anything) x B(X-cc (x) over bar(s) over bar Ds+Ds+(Ds*+Ds*+))] Gamma(1S, 2S) inclusive decays and the product values of Born cross section and branching fraction [sigma(e(+)e(-) -> Xcc (x) over bar(s) over bar + anythin) x B(Xcc (x) over bar(s) over bar -> Ds+Ds+(Ds*+Ds*+))] in e(+)e(-) collisions at root s = 10.52, 10.58, and 10.867 GeV under different assumptions of Xcc (x) over bar(s) over bar masses and widths are obtained.

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten