Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Gebauer, U.; Beleno, C.; Frey, A.; Adachi, I.; Adamczyk, K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Belous, K.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chang, M.-C.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S.-J.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; Di Capua, F.; Dingfelder, J.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Gudkova, K.; Hadjivasiliou, C.; Halder, S.; Hara, T.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, C. W.; Joo, K. K.; Kahn, J.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, S. H.; Kim, Y.-K.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, M.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lalwani, K.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Lewis, P.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mrvar, M.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S.-H.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Purohit, M. V.; Roehrken, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Simon, F.; Solovieva, E.; Stanic, S.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Tonder, R. van; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vossen, A.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Wang, X. L.; Watanuki, S.; Wiechczynski, J.; Won, E.; Xu, X.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V. und Zhukova, V. (2022): Measurement of the branching fractions of the B+ -> eta l(+)nu(l) and B+ -> eta ' l(+)nu(l) decays with signal-side only reconstruction in the full q(2) range. In: Physical Review D, Bd. 106, Nr. 3, 32013

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

The branching fractions of the decays B+ -> eta l(+)nu(l) and B+ -> eta'l(+)nu(l) are measured, where l is either an electron or a muon, using a data sample of 711 fb(-1) containing 772 x 10(6)B (B) over bar pairs collected at the Upsilon(4S) resonance with the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+)e(-) collider. To reduce the dependence of the result on the form factor model, the measurement is performed over the entire q(2) range. The resulting branching fractions are B(B+ -> eta l(+)nu(l)) = (2.83 +/- 0.55((stat.)) +/- 0.34((syst.))) x 10(-5) and B(B+ -> eta'l(+)nu(l)) = (2.79 +/- 1.29((stat.)) +/- 0.30((syst.))) x 10(-5).

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten