Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Abudinen, F.; Aggarwal, L.; Ahmed, H.; Aihara, H.; Akopov, N.; Al Said, S.; Aloisio, A.; Ky, N. Anh; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, V.; Ayad, R.; Babu, V.; Bacher, S.; Baehr, S.; Bahinipati, S.; Bambade, P.; Banerjee, Sw; Bansal, S.; Baudot, J.; Becker, J.; Behera, P. K.; Belous, K.; Bennett, J. V.; Bernlochner, F. U.; Bertemes, M.; Bertholet, E.; Bessner, M.; Bettarini, S.; Bianchi, F.; Bilka, T.; Biswas, D.; Bobrov, A.; Bodrov, D.; Bonvicini, G.; Borah, J.; Bozek, A.; BraCko, M.; Branchini, P.; Briere, R. A.; Browder, T. E.; Budano, A.; Bussino, S.; Campajola, M.; Cao, L.; Casarosa, G.; Cecchi, C.; Cervenkov, D.; Cheema, P.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Chirapatpimol, K.; Cho, H.-E.; Cho, S.-J.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Corona, L.; Cunliffe, S.; Czank, T.; Das, S.; Dattola, F.; De La Cruz-Burelo, E.; de Marino, G.; Maurya, S. K.; De Nardo, G.; De Nuccio, M.; De Pietro, G.; de Sangro, R.; Destefanis, M.; Dey, S.; De Yta-Hernandez, A.; Dhamija, R.; Di Canto, A.; Dolezal, Z.; Dominguez Jimenez, I.; Dong, T. V.; Dorigo, M.; Dossett, D.; Dubey, S.; Dujany, G.; Eliachevitch, M.; Epifanov, D.; Feichtinger, P.; Ferlewicz, D.; Fillinger, T.; Fiore, S.; Fodor, A.; Forti, F.; Fulsom, B. G.; Gabrielli, A.; Ganiev, E.; Garcia-Hernandez, M.; Gaur, V.; Gaz, A.; Giordano, R.; Giri, A.; Glazov, A.; Godang, R.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Gradl, W.; Graziani, E.; Greenwald, D.; Gu, T.; Guan, Y.; Gudkova, K.; Guilliams, J.; Hadjivasiliou, C.; Halder, S.; Hara, T.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hazra, S.; Heredia de la Cruz, I.; Hershenhorn, A.; Higuchi, T.; Hill, E. C.; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Iwasaki, M.; Jacobs, W. W.; Jang, E.-J.; Jin, Y.; Junkerkalefeld, H.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karl, R.; Karyan, G.; Kato, Y.; Ketter, C.; Kiesling, C.; Kim, C.-H.; Kim, D. Y.; Kim, K.-H.; Kim, Y.-K.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Koga, T.; Kohani, S.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Kraetzschmar, T. M. G.; Krizan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, J.; Kumar, M.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lacaprara, S.; Lai, Y.-T.; La Licata, C.; Lanceri, L.; Lange, J. S.; Leboucher, R.; Lee, S. C.; Leitl, P.; Li, J.; Li, S. X.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liptak, Z.; Liu, Q. Y.; Liventsev, D.; Longo, S.; Lueck, T.; Lyu, C.; Maggiora, M.; Maiti, R.; Maity, S.; Manfredi, R.; Manoni, E.; Marcello, S.; Martini, A.; Massaccesi, L.; Masuda, M.; Matsuoka, K.; Matvienko, D.; McKenna, J. A.; Meier, F.; Merola, M.; Metzner, F.; Milesi, M.; Miller, C.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Molina-Gonzalez, N.; Moser, H.-G.; Mueller, F.; Murphy, C.; Mussa, R.; Nakamura, K. R.; Nakano, T.; Nakao, M.; Naruki, M.; Narwal, D.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Nazaryan, G.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Onishchuk, Y.; Ono, H.; Oskin, P.; Pakhlova, G.; Paladino, A.; Panta, A.; Paoloni, E.; Parham, K.; Park, S.-H.; Passeri, A.; Pathak, A.; Patra, S.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Pokharel, S.; Polat, L.; Praz, C.; Prell, S.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Purwar, H.; Rabusov, A.; Rados, P.; Raiz, S.; Reiter, S.; Remnev, M.; Ripp-Baudot, I.; Rizzo, G.; Rizzuto, L. B.; Robertson, S. H.; Rohrken, M.; Roney, J. M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Sahoo, D.; Sanders, D. A.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sato, Y.; Savinov, V.; Scavino, B.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Selce, A.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shillington, T.; Shwartz, B.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Singh, J. B.; Soffer, A.; Solovieva, E.; Spataro, S.; Spruck, B.; Stefkova, S.; Stottler, Z. S.; Stroili, R.; Sumisawa, K.; Sutcliffe, W.; Suzuki, S. Y.; Tabata, M.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Tiwary, R.; Tonelli, D.; Torassa, E.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Ueda, I.; Uglov, T.; Uno, K.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S. E.; Tonder, R. van; Varvell, K. E.; Vinokurova, A.; Vitale, L.; Wakeling, H. M.; Wang, E.; Wang, M.-Z.; Wang, X. L.; Warburton, A.; Watanuki, S.; Werbycka, O.; Wessel, C.; Won, E.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Ye, H.; Yoshihara, K.; Yusa, Y.; Zani, L.; Zhai, Y.; Zhang, Y.; Zhilich, V.; Zhou, Q. D.; Zhou, X. Y. und Zhukova, V. I. (2022): Combined analysis of Belle and Belle II data to determine the CKM angle phi(3) using B+ -> D(K(S)(0)h(+)h(-))h(+) decays. In: Journal of High Energy Physics, Nr. 2, 63

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

We present a measurement of the Cabibbo-Kobayashi-Maskawa unitarity triangle angle phi(3) (also known as gamma) using a model-independent Dalitz plot analysis of B+ -> D(K(S)(0)h(+)h(-))h(+), where D is either a D-0 or (D) over bar (0) meson and h is either a pi or K. This is the first measurement that simultaneously uses Belle and Belle II data, combining samples corresponding to integrated luminosities of 711 fb(-1) and 128 fb(-1), respectively. All data were accumulated from energy-asymmetric e(+)e(-) collisions at a centre-of-mass energy corresponding to the mass of the Upsilon(4S) resonance. We measure phi(3) = (78.4 +/- 11.4 +/- 0.5 +/- 1.0)degrees, where the first uncertainty is statistical, the second is the experimental systematic uncertainty and the third is from the uncertainties on external measurements of the D-decay strong-phase parameters.

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten