Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Omori, Y.; Baxter, E. J.; Chang, C.; Friedrich, O.; Alarcon, A.; Alves, O.; Amon, A.; Andrade-Oliveira, F.; Bechtol, K.; Becker, M. R.; Bernstein, G. M.; Blazek, J.; Bleem, L. E.; Camacho, H.; Campos, A.; Carnero Rosell, A.; Carrasco Kind, M.; Cawthon, R.; Chen, R.; Choi, A.; Cordero, J.; Crawford, T. M.; Crocce, M.; Davis, C.; DeRose, J.; Dodelson, S.; Doux, C.; Drlica-Wagner, A.; Eckert, K.; Eifler, T. F.; Elsner, F.; Elvin-Poole, J.; Everett, S.; Fang, X.; Ferté, A.; Fosalba, P.; Gatti, M.; Giannini, G.; Gruen, D.; Gruendl, R. A.; Harrison, I.; Herner, K.; Huang, H.; Huff, E. M.; Huterer, D.; Jarvis, M.; Krause, E.; Kuropatkin, N.; Leget, P. -F.; Lemos, P.; Liddle, A. R.; MacCrann, N.; McCullough, J.; Muir, J.; Myles, J.; Navarro-Alsina, A.; Pandey, S.; Park, Y.; Porredon, A.; Prat, J.; Raveri, M.; Rollins, R. P.; Roodman, A.; Rosenfeld, R.; Ross, A. J.; Rykoff, E. S.; Sánchez, C.; Sanchez, J.; Secco, L. F.; Sevilla-Noarbe, I.; Sheldon, E.; Shin, T.; Troxel, M. A.; Tutusaus, I.; Varga, T. N.; Weaverdyck, N.; Wechsler, R. H.; Wu, W. L. K.; Yanny, B.; Yin, B.; Zhang, Y.; Zuntz, J.; Abbott, T. M. C.; Aguena, M.; Allam, S.; Annis, J.; Bacon, D.; Benson, B. A.; Bertin, E.; Bocquet, S.; Brooks, D.; Burke, D. L.; Carlstrom, J. E.; Carretero, J.; Chang, C. L.; Chown, R.; Costanzi, M.; da Costa, L. N.; Crites, A. T.; Pereira, M. E. S.; de Haan, T.; De Vicente, J.; Desai, S.; Diehl, H. T.; Dobbs, M. A.; Doel, P.; Everett, W.; Ferrero, I.; Flaugher, B.; Friedel, D.; Frieman, J.; García-Bellido, J.; Gaztanaga, E.; George, E. M.; Giannantonio, T.; Halverson, N. W.; Hinton, S. R.; Holder, G. P.; Hollowood, D. L.; Holzapfel, W. L.; Honscheid, K.; Hrubes, J. D.; James, D. J.; Knox, L.; Kuehn, K.; Lahav, O.; Lee, A. T.; Lima, M.; Luong-Van, D.; March, M.; McMahon, J. J.; Melchior, P.; Menanteau, F.; Meyer, S. S.; Miquel, R.; Mocanu, L.; Mohr, J. J.; Morgan, R.; Natoli, T.; Padin, S.; Palmese, A.; Paz-Chinchón, F.; Pieres, A.; Plazas Malagón, A. A.; Pryke, C.; Reichardt, C. L.; Romer, A. K.; Ruhl, J. E.; Sanchez, E.; Schaffer, K. K.; Schubnell, M.; Serrano, S.; Shirokoff, E.; Smith, M.; Staniszewski, Z.; Stark, A. A.; Suchyta, E.; Tarle, G.; Thomas, D.; To, C.; Vieira, J. D.; Weller, Jochen ORCID logoORCID: https://orcid.org/0000-0002-8282-2010 und Williamson, R. (2023): Joint analysis of Dark Energy Survey Year 3 data and CMB lensing from SPT and Planck. I. Construction of CMB lensing maps and modeling choices. In: Physical Review D, Bd. 107, 023529

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.
Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten