Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Abbott, T. M. C.; Aguena, M.; Alarcon, A.; Alves, O.; Amon, A.; Andrade-Oliveira, F.; Annis, J.; Ansarinejad, B.; Avila, S.; Bacon, D.; Baxter, E. J.; Bechtol, K.; Becker, M. R.; Benson, B. A.; Bernstein, G. M.; Bertin, E.; Blazek, J.; Bleem, L. E.; Bocquet, S.; Brooks, D.; Buckley-Geer, E.; Burke, D. L.; Camacho, H.; Campos, A.; Carlstrom, J. E.; Carnero Rosell, A.; Carrasco Kind, M.; Carretero, J.; Cawthon, R.; Chang, C.; Chang, C. L.; Chen, R.; Choi, A.; Chown, R.; Conselice, C.; Cordero, J.; Costanzi, M.; Crawford, T.; Crites, A. T.; Crocce, M.; da Costa, L. N.; Davis, C.; Davis, T. M.; de Haan, T.; De Vicente, J.; DeRose, J.; Desai, S.; Diehl, H. T.; Dobbs, M. A.; Dodelson, S.; Doel, P.; Doux, C.; Drlica-Wagner, A.; Eckert, K.; Eifler, T. F.; Elsner, F.; Elvin-Poole, J.; Everett, S.; Everett, W.; Fang, X.; Ferrero, I.; Ferté, A.; Flaugher, B.; Fosalba, P.; Friedrich, O.; Frieman, J.; García-Bellido, J.; Gatti, M.; George, E. M.; Giannantonio, T.; Giannini, G.; Gruen, D.; Gruendl, R. A.; Gschwend, J.; Gutierrez, G.; Halverson, N. W.; Harrison, I.; Herner, K.; Hinton, S. R.; Holder, G. P.; Hollowood, D. L.; Holzapfel, W. L.; Honscheid, K.; Hrubes, J. D.; Huang, H.; Huff, E. M.; Huterer, D.; Jain, B.; James, D. J.; Jarvis, M.; Jeltema, T.; Kent, S.; Knox, L.; Kovacs, A.; Krause, E.; Kuehn, K.; Kuropatkin, N.; Lahav, O.; Lee, A. T.; Leget, P. -F.; Lemos, P.; Liddle, A. R.; Lidman, C.; Luong-Van, D.; McMahon, J. J.; MacCrann, N.; March, M.; Marshall, J. L.; Martini, P.; McCullough, J.; Melchior, P.; Menanteau, F.; Meyer, S. S.; Miquel, R.; Mocanu, L.; Mohr, J. J.; Morgan, R.; Muir, J.; Myles, J.; Natoli, T.; Navarro-Alsina, A.; Nichol, R. C.; Omori, Y.; Padin, S.; Pandey, S.; Park, Y.; Paz-Chinchón, F.; Pereira, M. E. S.; Pieres, A.; Plazas Malagón, A. A.; Porredon, A.; Prat, J.; Pryke, C.; Raveri, M.; Reichardt, C. L.; Rollins, R. P.; Romer, A. K.; Roodman, A.; Rosenfeld, R.; Ross, A. J.; Ruhl, J. E.; Rykoff, E. S.; Sánchez, C.; Sanchez, E.; Sanchez, J.; Schaffer, K. K.; Secco, L. F.; Sevilla-Noarbe, I.; Sheldon, E.; Shin, T.; Shirokoff, E.; Smith, M.; Staniszewski, Z.; Stark, A. A.; Suchyta, E.; Swanson, M. E. C.; Tarle, G.; To, C.; Troxel, M. A.; Tutusaus, I.; Varga, T. N.; Vieira, J. D.; Weaverdyck, N.; Wechsler, R. H.; Weller, Jochen ORCID logoORCID: https://orcid.org/0000-0002-8282-2010; Williamson, R.; Wu, W. L. K.; Yanny, B.; Yin, B.; Zhang, Y. und Zuntz, J. (2023): Joint analysis of Dark Energy Survey Year 3 data and CMB lensing from SPT and Planck. III. Combined cosmological constraints. In: Physical Review D, Bd. 107, 023531

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.
Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten