Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English
Chobanova, V.; Dalseno, J.; Kiesling, C.; Abdesselam, A.; Adachi, I.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bahinipati, S.; Bakich, A. M.; Barberio, E.; Behera, P.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Cervenkov, D.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chistov, R.; Cho, K.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Dash, N.; Dolezal, Z.; Drasal, Z.; Drutskoy, A.; Eidelman, S.; Farhat, H.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gillard, R.; Goh, Y. M.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Grzymkowska, O.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W.-S.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Iwasaki, Y.; Jaegle, I.; Jeon, H. B.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kato, E.; Katrenko, P.; Kawasaki, T.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kim, M. J.; Kim, S. H.; Kim, Y. J.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Krizan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, R.; Kumita, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lee, I. S.; Li, H.; Li, L.; Li, Y.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Liventsev, D.; Masuda, M.; Matvienko, D.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mohanty, S.; Moll, A.; Moon, H. K.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nanut, T.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Nedelkovska, E.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Park, C. W.; Park, H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Petric, M.; Piilonen, L. E.; Pulvermacher, C.; Rauch, J.; Ribezl, E.; Ritter, M.; Ryu, S.; Sahoo, H.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schlüter, T.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shibata, T.-A.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Simon, F.; Singh, J. B.; Sohn, Y.-S.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Stypula, J.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Tamponi, U.; Teramoto, Y.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Hulse, C. van; Vanhoefer, P.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vorobyev, V.; Wagner, M. N.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Wang, X. L.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Williams, K. M.; Won, E.; Yamaoka, J.; Yashchenko, S.; Ye, H.; Yelton, J.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A. (2016): First observation of the decay B-0 -> psi(2S)pi(0). In: Physical Review D, Vol. 93, Nr. 3, 31101
Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

We report a measurement of the B-0 -> psi(2S)pi(0) branching fraction based on the full Upsilon(4S) data set of 772 x 10(6) B (B) over bar pairs collected by the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+)e(-) collider. We obtain B(B-0 -> psi(2S)pi(0)) = (1.17 +/- 0.17(stat) +/- 0.08(syst)) x 10(-5). The result has a significance of 7.2 standard deviations and is the first observation of the decay B-0 -> psi(2S)pi(0).

Search for authors
Export