Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English
Vanhoefer, P.; Dalseno, J.; Kiesling, C.; Abdesselam, A.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Arinstein, K.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Aziz, T.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Barberio, E.; Behera, P.; Bhuyan, B.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Cervenkov, D.; Chang, P.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Chistov, R.; Chobanova, V.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Danilov, M.; Dash, N.; Dingfelder, J.; Dolezal, Z.; Drasal, Z.; Dutta, D.; Eidelman, S.; Farhat, H.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gillard, R.; Goh, Y. M.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Greenwald, D.; Haba, J.; Hamer, P.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; He, X. H.; Horiguchi, T.; Hou, W.-S.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jaegle, I.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kang, K. H.; Kato, E.; Katrenko, P.; Kawasaki, T.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, J. B.; Kim, J. H.; Kim, K. T.; Kim, M. J.; Kim, S. H.; Kim, Y. J.; Kinoshita, K.; Ko, B. R.; Korpar, S.; Krizan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumita, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lee, I. S.; Li, L.; Li, Y.; Gioi, L. Li; Libby, J.; Liventsev, D.; Lukin, P.; Masuda, M.; Matvienko, D.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mohanty, S.; Moll, A.; Moon, H. K.; Mori, T.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nanut, T.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Okuno, S.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Park, C. W.; Park, H.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Petric, M.; Piilonen, L. E.; Pulvermacher, C.; Ribezl, E.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Sahoo, H.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Sato, Y.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shen, C. P.; Shibata, T.-A.; Shiu, J.-G.; Simon, F.; Sohn, Y.-S.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Tamponi, U.; Teramoto, Y.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Usov, Y.; Hulse, C. van; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vossen, A.; Wagner, M. N.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Won, E.; Yamamoto, H.; Yamaoka, J.; Yashchenko, S.; Ye, H.; Yook, Y.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A. (2016): Study of B0→ρ+ρ− (B-0 -> rho(+)rho(-)) decays and implications for the CKM angle ϕ2 (phi(2)). In: Physical Review D, Vol. 93, Nr. 3, 32010
Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

We present a measurement of the branching fraction and the longitudinal polarization fraction of B-0 -> rho(+)rho(-) decays, as well as the time-dependent CP violating parameters in decays into longitudinally polarized rho(+)rho(-) pairs with Belle's final data set of 772 x 10(6) B (B) over bar pairs, at the Upsilon(4S) resonance, collected at the asymmetric-energy e(+)e(-) collider KEKB. We obtain B(B-0 -> rho(+)rho(-)) = (28.3 +/- 1.5(stat) +/- 1.5(syst)) x 10(-6), f(L) = 0.988 +/- 0.012(stat) +/- 0.023(syst), A(CP) = 0.00 +/- 0.10(stat) +/- 0.06(syst), S-CP = -0.13 +/- 0.15(stat) +/- 0.05(syst). We perform an isospin analysis to constrain the Cabibbo-Kobayashi-Maskawa angle phi(2) and obtain two solutions with phi(2) = (93.7 +/- 10.6)degrees, being most compatible with other Standard-Model based fits to the data.

Search for authors
Export