Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English
Pal, B.; Schwartz, A. J.; Abdesselam, A.; Adachi, I.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Ayad, R.; Aziz, T.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bahinipati, S.; Bakich, A. M.; Barberio, E.; Behera, P.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Cervenkov, D.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chistov, R.; Cho, K.; Chobanova, V.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Dalseno, J.; Dash, N.; Dolezal, Z.; Drasal, Z.; Drutskoy, A.; Dutta, D.; Eidelman, S.; Farhat, H.; Fast, J. E.; Fulsom, B. G.; Gaur, V.; Garmash, A.; Gillard, R.; Goh, Y. M.; Goldenzweig, P.; Greenwald, D.; Grzymkowska, O.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; He, X. H.; Hou, W.-S.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jaegle, I.; Jeon, H. B.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kang, K. H.; Kato, E.; Kawasaki, T.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, K. T.; Kim, M. J.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Krizan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, R.; Kumita, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lee, I. S.; Li, C. H.; Li, H.; Li, L.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Liventsev, D.; Lukin, P.; Luo, T.; Masuda, M.; Matvienko, D.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mohanty, S.; Moll, A.; Moon, H. K.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nanut, T.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Okuno, S.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Park, C. W.; Park, H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pesantez, L.; Pestotnik, R.; Petric, M.; Piilonen, L. E.; Pulvermacher, C.; Rauch, J.; Ribezl, E.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Ryu, S.; Sahoo, H.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sanuki, T.; Sato, Y.; Savinov, V.; Schlueter, T.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Seon, O.; Seong, I. S.; Shebalin, V.; Shibata, T.-A.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Simon, F.; Sohn, Y.-S.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stanic, S.; Staric, M.; Stypula, J.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Tamponi, U.; Teramoto, Y.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uehara, S.; Uglov, T.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Hulse, C. van; Vanhoefer, P.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vossen, A.; Wagner, M. N.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, X. L.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Williams, K. M.; Won, E.; Yamaoka, J.; Yelton, J.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A. (2016): Observation of the Decay B-s(0) -> K-0(K)over-bar(0). In: Physical Review Letters, Vol. 116, Nr. 16, 161801
Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

We measure the decay B-s(0) -> K-0(K) over bar (0) using data collected at the Upsilon(5S) resonance with the Belle detector at the KEKB e(+)e(-) collider. The data sample used corresponds to an integrated luminosity of 121.4 fb(-1). We measure a branching fraction beta(B-s(0) -> K-0(K) over bar (0)) = [19.6(-5.1)(+5.8)(stat) +/- 1.0(syst) +/- 2.0(N-Bs0 (B) over bar s0)] x 10(-6) with a significance of 5.1 standard deviations. This measurement constitutes the first observation of this decay.

Search for authors
Export