Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English
Nanut, T.; Zupanc, A.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Behera, P.; Bhardwaj, V.; Biswal, J.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Cervenkov, D.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chistov, R.; Cho, K.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Dash, N.; Carlo, S. di; Dolezal, Z.; Dutta, D.; Eidelman, S.; Farhat, H.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gillard, R.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W.-S.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jaegle, I.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Kawasaki, T.; Kim, D. Y.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kim, M. J.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Li, C. H.; Li, L.; Li, Y.; Gioi, L. Li; Libby, J.; Liventsev, D.; Lubej, M.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, H. K.; Nakao, M.; Nath, K. J.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Okuno, S.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Park, C.-S.; Park, C. W.; Park, H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pesántez, L.; Pestotnik, R.; Petrič, M.; Piilonen, L. E.; Prasanth, K.; Pulvermacher, C.; Rauch, J.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Sato, Y.; Savinov, V.; Schlüter, T.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shen, C. P.; Shibata, T.-A.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Solovieva, E.; Stanic, S.; Starič, M.; Strube, J. F.; Stypula, J.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vorobyev, V.; Vossen, A.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanabe, Y.; Widmann, E.; Won, E.; Yamaoka, J.; Yamashita, Y.; Yelton, J.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V. (2017): Observation of D-0 -> rho(0)gamma and Search for CP Violation in Radiative Charm Decays. In: Physical Review Letters, Vol. 118, Nr. 5, 51801
Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

We report the first observation of the radiative charm decay D-0 -> rho(0)gamma and the first search for CP violation in decays D-0 -> rho(0)gamma, phi gamma, and (K) over bar (*0)(892)gamma, using a data sample of 943 fb(-1) collected with the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+)e(-) collider. The branching fraction is measured to be B(D-0 -> rho(0)gamma) = (1.77 +/- 0.30 +/- 0.07) x 10(-5), where the first uncertainty is statistical and the second is systematic. The obtained CP asymmetries A(CP)(D-0 ->rho(0)gamma) = +0.056 +/- 0.152 +/- 0.006, A(CP)(D-0 -> phi gamma) = -0.094 +/- 0.066 +/- 0.001, and A(CP)(D-0 -> (K) over bar (*0) gamma = -0.003 +/- 0.020 +/- 0.000 are consistent with no CP violation. We also present an improved measurement of the branching fractions B(D-0 -> phi gamma) = (2.76 +/- 0.19 +/- 0.10) x 10(-5) and B(D-0 -> (K) over bar (*0) gamma = (4.66 +/- 0.21 +/- 0.21) x 10(-4).

Search for authors
Export