Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German
Xu, Q. N.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Barberio, E.; Behera, P.; Berger, M.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Biswal, J.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Cervenkov, D.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Czank, T.; Dash, N.; Carlo, S. di; Dolezal, Z.; Drasal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gelb, M.; Goldenzweig, P.; Guan, Y.; Guido, E.; Haba, J.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Hou, W.-S.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jägle, I.; Jeon, H. B.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, J. B.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Krokovny, P.; Kulasiri, R.; Kwon, Y.-J.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li, Y.; Gioi, L. Li; Libby, J.; Liventsev, D.; Lubej, M.; Luo, T.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Moon, H. K.; Mori, T.; Mussa, R.; Nanut, T.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Okuno, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Park, H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shen, C. P.; Shibata, T.-A.; Shimizu, N.; Shiu, J.-G.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Strube, J. F.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Hulse, C. van; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vorobyev, V.; Vossen, A.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Wang, X. L.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Widmann, E.; Won, E.; Ye, H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zakharov, S.; Zhang, C. C.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A. (2018): Measurement of eta(c) (1S), eta(c)(2S), and nonresonant eta 'pi(+)pi(-) production via two-photon collisions. In: Physical Review D, Vol. 98, No. 7, 72001
Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

We report the measurement of gamma gamma -> eta(c) (1S) -> eta(c) (2S) -> eta'pi(+)pi(-) with eta' decays to gamma rho and eta pi(+)pi(-) using 941 fb(-1) of data collected with the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+)e(-) collider. The eta(c) (1S) mass and width are measured to be M = [2984.6 +/- 0.7 (sta) +/- 2.2 (syst) +/- 0.3 (model)] MeV/c(2) and Gamma = [30.8(-2.2)(+2.3) (stat) +/- 2.5 (syst) +/- 1.4 (model)] MeV, respectively. First observation of eta(c) (2S) -> eta'pi(+)pi(-) with a significance of 5.5 sigma including systematic error is obtained, and the eta(c) (2S)mass is measured to be M = [3635.1 +/- 3.7 (stat) +/- 2.9 (syst) +/- 0.4 (model)] MeV/c(2). The products of the two-photon decay width and branching fraction (B) of decays to eta'pi(+)pi(-) are determined to be Gamma(gamma gamma)Gamma B-gamma gamma = [65.4 +/- 2.6 (stat) +/- 7.8 (syst)] eV for eta(c)(1S) and [5.6(-1.1)(+1.2) (stat) +/- 1.1 (syst)] eV for eta(c) (2S). The cross sections for gamma gamma -> eta'pi(+)pi(-) and eta'f(2)(1270) are measured for the first time.

Search for authors
Export