Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German
Pal, B.; Schwartz, A. J.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Badhrees, I.; Bahinipati, S.; Bansal, V.; Behera, P.; Beleno, C.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bozek, A.; Bracko, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Carlo, S. di; Dolezal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Garmash, A.; Gelb, M.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Guan, Y.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Higuchi, T.; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Joffe, D.; Julius, T.; Karyan, G.; Kim, D. Y.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Krokovny, P.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lalwani, K.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Gioi, L. Li; Libby, J.; Lu, P.-C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mori, T.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Prencipe, E.; Purohit, M. V.; Ritter, M.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schüler, J.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M. E.; Shibata, T.-A.; Simon, F.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Vahsen, S. E.; Tonder, R. van; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vorobyev, V.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Wang, X. L.; Widmann, E.; Won, E.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V. (2018): Measurement of the branching fraction and time-dependent CP asymmetry for B-0 -> J/psi pi(0) decays. In: Physical Review D, Vol. 98, No. 11, 112008
Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

We measure the branching fraction and time-dependent CP-violating asymmetry for B-0 -> /psi pi(0) decays using a data sample of 711 fb(-1) collected on the Gamma(4S) resonance by the Belle experiment running at the KEKB e(+)e(-) collider. The branching fraction is measured to be B(B-0 -> /psi pi(0)) = [1.62 +/- 0.11(stat) +/- 0.06(syst)] x 10(-5), which is the most precise measurement to date. The measured CP asymmetry parameters are S = -0.59 +/- 0.19(stat) +/- 0.03 (syst) and A = 0.15 +/- 0.14(stat)(-0.03)(+0.04) (syst). The mixing-induced CP asymmetry (8) differs from the case of no CP V i lotion by 3.0 standard deviations, and the direct CP asymmetry (A) is consistent with zero.

Search for authors
Export