Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German
Vossen, A.; Collaboration, Belle; Adachi, I.; Adamczyk, K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Badhrees, I.; Bansal, V.; Beleno, C.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bondar, A.; Bozek, A.; Browder, T. E.; Cervenkov, D.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Carlo, S. di; Dolezal, Z.; Eidelman, S.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gelb, M.; Goldenzweig, P.; Guido, E.; Hara, T.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Hirose, S.; Hou, W.-S.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jägle, I.; Jia, S.; Jin, Y.; Julius, T.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumita, T.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li, Y.; Gioi, L. Li; Libby, J.; Liventsev, D.; Lubej, M.; Masuda, M.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Moon, H. K.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nanut, T.; Nath, K. J.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nishida, S.; Ono, H.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pardi, S.; Park, H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Shebalin, V.; Shen, C. P.; Shibata, T.-A.; Shimizu, N.; Shiu, J.-G.; Simon, F.; Solovieva, E.; Staric, M.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Hulse, C. van; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vinokurova, A.; Vorobyev, V.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Widmann, E.; Won, E.; Ye, H.; Yusa, Y.; Zakharov, S.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A. (2018): Measurement of the branching fraction of B -> D-(*()) pi l nu at Belle using hadronic tagging in fully reconstructed events. In: Physical Review D, Vol. 98, No. 1, 12005
Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

We report a measurement of the branching fraction of the decay B -> D-(*()) pi l nu. The analysis uses 772X106 B (B) over bar pairs produced in e(+)e(-) -> Upsilon (4S) data recorded by the Belle experiment at the KEKB asymmetric-energy e+e- collider. The tagging B meson in the decay is fully reconstructed in a hadronic decay mode. On the signal side, we reconstruct the decay B -> D-(*()) pi l nu (l=e,mu). The measured branching fractions are B(B+ -> D- (pi)+l(+) nu) = [4.55 +/- 0.27 (stat.) +/- 0.39 (syst.)]X10-3, B(B0?D (_) 0p-l+?) = [4.05 +/- 0.36 (stat.) +/- 0.41 (syst.)]X10(-3), B (B) over bar (D) over bar *0 pi(-)l(+) nu) = [6.03 +/- 0.43 (stat.) +/- 0.38 (syst.)]X10(-3), and B (B) over bar (D) over bar *0 pi(-)l(+) nu) = [6.46 +/- 0.53 (stat.) +/- 0.52 (syst.)10]X-3. These are in good agreement with the current world average values.

Search for authors
Export