Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Berger, M.; Schwanda, C.; Suzuki, K.; Adachi, I; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenlco, V; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V; Badhrees, I; Bakich, A. M.; Bansa, V; Behera, R.; Bhardw, V; Bhuyan, B.; Biswal, J.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Brako, M.; Browder, T. E.; Ervenkov, D. T.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Czank, T.; Dash, N.; Carlo, S. di; Dolezal, Z.; Dutta, D.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gelb, M.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Grzymkowska, O.; Guan, Y.; Guido, E.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Hou, W-S; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jägle, I; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kaliy, A. B.; Kang, K. H.; Icaryan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizam, P.; Icroeger, R.; Icrokovny, P.; Kuhr, Thomas ORCID logoORCID: https://orcid.org/0000-0001-6251-8049; Kulasiri, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y-J; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li, Y.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Liventsev, D.; Lubej, M.; Luo, T.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, H. K.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakano, T.; Nalcao, M.; Nanut, T.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Okuno, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Pakhlov, P.; Palthlova, G.; Pal, B.; Park, H.; Paul, S.; Pavelkin, I; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M. E.; Shebalin, V; Shen, C. P.; Shibata, T-A; Shimizu, N.; Shiu, J-G; Shwartz, B.; Simon, F.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stari, M.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tnida, K.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Hulse, C. van; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vinokurova, A.; Vorobyev, V.; Vossen, A.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M-Z; Wang, P.; Wang, X. L.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Widmann, E.; Won, E.; Ye, H.; Yelton, J.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zakharov, S.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V; Zhukova, V; Zhulanov, V und Zupanc, A. (2018): Measurement of the decays Lambda c -> Sigma pi pi at Belle. In: Physical Review D, Bd. 98, Nr. 11, 112006

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

We report measurements of the branching fractions of the decays Lambda(+)(c) -> Sigma(+)pi(-)pi(+), Lambda(+)(c) -> Sigma(0)pi(+)pi(0) and Lambda(+)(c) -> Sigma(+)pi(0)pi(0) relative to the reference channel Lambda(+)(c) -> pK(-)p(+). The analysis is based on the full data sample collected at and near the gamma(4S) resonance by the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy ethorne-collider, corresponding to an integrated luminosity of 711 fb(-1). We measure B(Lambda(+)(c) -> Sigma(+)pi(-)pi(+))/B(Lambda(+)(c) -> pK(-)pi(+)) = 0.719 +/- 0.003 +/- 0.024, B(Lambda(+)(c) -> Sigma(0) pi(+)pi(0))/B(Lambda(+)(c) -> pK(-)pi(+)) = 0.575 +/- 0.005 +/- 0.036 and B(Lambda(+)(c) -> Sigma(+)pi(0)pi(0))/B(Lambda(+)(c) -> pK(-)pi(+)) = 0.247 +/- 0.006 +/- 0.019. The listed uncertainties are statistical and systematic, respectively.

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten