Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German
Hirose, S.; Iijima, T.; Adachi, I.; Adamczyk, K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Ayad, R.; Aziz, T.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Berger, M.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Biswal, J.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Cervenkov, D.; Chang, M.-C.; Chang, P.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Czank, T.; Dash, N.; Carlo, S. di; Dolezal, Z.; Dutta, D.; Eidelman, S.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gelb, M.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Guan, Y.; Guido, E.; Haba, J.; Hara, K.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Higuchi, T.; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jägle, I.; Jeon, H. B.; Jin, Y.; Julius, T.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kim, D. Y.; Kim, J. B.; Kim, S. H.; Kim, Y. J.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Li, L. K.; Li, Y.; Gioi, L. Li; Libby, J.; Liventsev, D.; Lubej, M.; Matsuda, T.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mohanty, G. B.; Mohanty, S.; Moon, H. K.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakamura, K. R.; Nakao, M.; Nanut, T.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Okuno, S.; Ono, H.; Pal, B.; Pardi, S.; Park, C. W.; Park, H.; Paul, S.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Rozanska, M.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Sato, Y.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shibata, T.-A.; Shimizu, N.; Shiu, J.-G.; Simon, F.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Strube, J. F.; Stypula, J.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Uno, S.; Urquijo, P.; Hulse, C. van; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vorobyev, V.; Vossen, A.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Wang, X. L.; Wehle, S.; Widmann, E.; Won, E.; Yamamoto, H.; Yamashita, Y.; Ye, H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zakharov, S.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A. (2018): Measurement of the tau lepton polarization and R(D*) in the decay (B)over-bar -> D*tau(-)(nu)over-bar(tau) with one-prong hadronic tau decays at Belle. In: Physical Review D, Vol. 97, No. 1, 12004
Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

With the full data sample of 772 x 10(6) B (B) over bar pairs recorded by the Belle detector at the KEKB electron-positron collider, the decay (B) over bar -> D+ tau(-)(nu) over bar (tau) is studied with the hadronic tau decays tau(-) -> pi(-)nu(tau) and tau(-) -> rho(-)nu(tau). The tau polarization P-tau(D*) in two-body hadronic tau decays is measured, as well as the ratio of the branching fractions R(D*) = B((B) over bar -> D*tau(-) (nu) over bar (tau))/B((B) over bar -> D*l(-) (nu) over bar (l),where l(-) denotes an electron or a muon. Our results, P-tau (D*) = - 0.38 +/- 0.51(stat)(+0.21)(-0.16) (syst) and R(D*) = 0.270 +/- 0.035(stat)(+0.028)(-0.025)(syst), are consistent with the theoretical predictions of the standard model. The polarization values of P-tau(D*) > +0.5 are excluded at the 90% confidence level.

Search for authors
Export