Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German
Nakano, H.; Ishikawa, A.; Sumisawa, K.; Yamamoto, H.; Adachi, I; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aulchenko, V; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V; Badhrees, I; Bansal, V; Behera, P.; Beleno, C.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bozek, A.; Bracko, M.; Cervenkov, D.; Chekelian, V; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, S-K; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Carlo, S. di; Dolezal, Z.; Eidelman, S.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gelb, M.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Guan, Y.; Guido, E.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Hirose, S.; Hou, W-S; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jägle, I; Jeon, H. B.; Jia, S.; Jin, Y.; Julius, T.; Kaliyar, A. B.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumita, T.; Kwon, Y-J; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li, Y.; Li, Y. B.; Gioi, L. Li; Libby, J.; Liventsev, D.; Lubej, M.; Luo, T.; MacNaughton, J.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, H. K.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nanut, T.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Okuno, S.; Ono, H.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pardi, S.; Park, H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shebalin, V; Shen, C. P.; Shibata, T-A; Shimizu, N.; Shiu, J-G; Shwartz, B.; Simon, F.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stanic, S.; Staric, M.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Hulse, C. van; Varner, G.; Vorobyev, V.; Vossen, A.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M-Z; Wang, P.; Wang, X. L.; Watanabe, M.; Widmann, E.; Won, E.; Ye, H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zakharov, S.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V; Zhukova, V; Zhulanov, V; Zupanc, A. (2018): Measurement of time-dependent CP asymmetries in B-0 -> K-S(0)eta gamma decays. In: Physical Review D, Vol. 97, No. 9, 92003
Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

We report a measurement of time-dependent CP violation parameters in B-0 -> K-S(0)eta gamma decays. The study is based on a data sample, containing 772 x 10(6)B(B)over-bar pairs, that was collected at the Upsilon(4S) resonance with the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+)e(-) collider. We obtain the CP violation parameters of S = -1.32 +/- 0.77(stat) +/- 0.36(syst) and A = -0.48 +/- 0.41(stat) f 0.07(syst) for the invariant mass of the K-S(0)eta system up to 2.1 GeV/c(2).

Search for authors
Export