Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German
Babu, V.; Trabelsi, K.; Mohanty, G. B.; Aziz, T.; Greenwald, D.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Ayad, R.; Badhrees, I.; Bahinipati, S.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Behera, P.; Berger, M.; Bhardwaj, V.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Cervenkov, D.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Dash, N.; Carlo, S. di; Dolezal, Z.; Drasal, Z.; Dutta, D.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gelb, M.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Guan, Y.; Guido, E.; Haba, J.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Horiguchi, T.; Hou, W.-S.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jacobs, W. W.; Jeon, H. B.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kaliyar, A. B.; Kang, J. H.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Katrenko, P.; Kawasaki, T.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kim, Y. J.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Li, L. K.; Gioi, L. Li; Libby, J.; Liventsev, D.; Lubej, M.; Luo, T.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mori, T.; Mrvar, M.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nanut, T.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Okuno, S.; Ono, H.; Ono, Y.; Ostrowicz, W.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pardi, S.; Park, C.-S.; Park, H.; Paul, S.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Prasanth, K.; Pulvermacher, C.; Rauch, J.; Resmi, P. K.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Seon, O.; Seong, I. S.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shen, C. P.; Shibata, T.-A.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Simon, F.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stanic, S.; Staric, M.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Hulse, C. van; Varner, G.; Varvell, K. E.; Waheed, E.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanabe, Y.; Widmann, E.; Won, E.; Yamamoto, H.; Yamashita, Y.; Ye, H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zakharov, S.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A. (2018): Search for CP violation in the D+ -> pi(+) pi(0) decay at Belle. In: Physical Review D, Vol. 97, No. 1, 11101
Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

We search for CP violation in the charged charm meson decay D+ -> pi(+)pi(0), based on a data sample corresponding to an integrated luminosity of 921 fb(-1) collected by the Belle experiment at the KEKB e(+)e(-) asymmetric-energy collider. The measured CP-violating asymmetry is [+2.31 +/- 1.24(stat) +/- 0.23(syst)] %, which is consistent with the standard model prediction and has a significantly improved precision compared to previous results.

Search for authors
Export