Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German
Sandilya, S.; Trabelsi, K.; Schwartz, A. J.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bahinipati, S.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Behera, P.; Beleno, C.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chang, P.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Carlo, S. di; Dingfelder, J.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Drasal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gelb, M.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Greenwald, D.; Guan, Y.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hirose, S.; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jägle, I.; Jeon, H. B.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Liventsev, D.; Lubej, M.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, H. K.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nanut, T.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pardi, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Prasanth, K.; Prencipe, E.; Purohit, M. V.; Rabusov, A.; Resmi, P. K.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M. E.; Shen, C. P.; Shibata, T.-A.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Singh, J. B.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Ushiroda, Y.; Usov, Y.; Hulse, C. van; Tonder, R. van; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vorobyev, V.; Waheed, E.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Wang, X. L.; Watanuki, S.; Wehle, S.; Widmann, E.; Won, E.; Yamamoto, H.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A. (2018): Search for the lepton-flavor-violating decay B-0 -> K-*0 mu(+/-)e(-/+). In: Physical Review D, Vol. 98, No. 7, 71101
Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

We have searched for the lepton-flavor-violating decay B-0 -> K-*0 mu(+/-)e(-/+) using a data sample of 711 fb(-1) that contains 772 x 10(6) B (B) over bar pairs. The data were collected near the Upsilon(4S) resonance with the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+) e(-) collider. No signals were observed, and we set 90% confidence level upper limits on the branching fractions of B(B-0 -> K-*0 mu(+)e(-)) < 1.2 x 10(-7), B(B-0 -> K-*0 mu(-)e(+)) < 1.6 x 10(-7), and, for both decays combined, B(B-0 -> K-*0 mu(+/-)e(-/+)) < 1.8 x 10(-7). These are the most stringent limits on these decays to date.

Search for authors
Export