Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Mizuk, R.; Bondar, A.; Adachi, I; Aihara, H.; Asner, D. M.; Aulchenko, V; Aushev, T.; Ayad, R.; Badhrees, I; Bahinipati, S.; Bakich, A. M.; Behera, P.; Beleno, C.; Berger, M.; Bhardwaj, V; Bilka, T.; Biswal, J.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, S-K; Choi, Y.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; Di Capua, F.; Di Carlo, S.; Dolezal, Z.; Dong, T.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Gaur, V; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Grzymkowska, O.; Hara, T.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W-S; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Lange, J. S.; Lee, J. Y.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Luo, T.; MacNaughton, J.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyata, H.; Mohanty, G. B.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakano, T.; Nakao, M.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, S.; Olsen, S. L.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Ostrowicz, W.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pang, T.; Pardi, S.; Park, S-H; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V; Prencipe, E.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Sanuki, T.; Savinov, V; Schneider, O.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M. E.; Shebalin, V; Shen, C. P.; Shiu, J-G; Shwartz, B.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M-Z; Wang, P.; Won, E.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V und Zhukova, V (2019): Observation of a new structure near 10.75 GeV in the energy dependence of the e(+)e(-)-> Upsilon (nS)pi(+)pi(-) (n=1, 2, 3) cross sections. In: Journal of High Energy Physics, Nr. 10, 220

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

We report a new measurement of the e(+)e(-)-> Upsilon(nS)pi(+)pi(-) (n = 1, 2, 3) cross sections at energies from 10.52 to 11.02 GeV using data collected with the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+)e(-) collider. We observe a new structure in the energy dependence of the cross sections;if described by a Breit-Wigner function its mass and width are found to be M= open="(10752.7 +/- 5.9-1.1+0.7 MeV/c2 and Gamma)" open (">35.5-11.3 0.5em -3.3+17.6+3.9 MeV, where the first error is statistical and the second is systematic. The global significance of the new structure including systematic uncertainty is 5.2 standard deviations. We also find evidence for the e(+)e(-)-> Upsilon (1S)pi(+)pi(-) process at the energy 10.52 GeV, which is below the B (B) over bar threshold.

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten