First measurements of absolute branching fractions of the Xi(+)(c) baryon at Belle

Li, Y. B.; Shen, C. P.; Adachi, I; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V; Bakich, A. M.; Ban, Y.; Bansal, V; Behera, P.; Beleno, C.; Berger, M.; Bhardwaj, V; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chekelian, V; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Di Carlo, S.; Dolezal, Z.; Dossett, D.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Grube, B.; Grzymkowska, O.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W-S; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Karyan, G.; Kato, Y.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kody, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y-J; Lalwani, K.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, J. K.; Lee, J. Y.; Lee, S. C.; Li, C. H.; Li, L. K.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Lu, P-C; MacNaughton, J.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, T. J.; Mussa, R.; Nakao, M.; Nath, K. J.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S-H; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V; Prencipe, E.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V; Schneider, O.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shebalin, V; Shiu, J-G; Shwartz, B.; Simon, F.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S. E.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M-Z; Wang, P.; Watanuki, S.; Won, E.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V; Zhukova, V und Zhulanov, V (2019): First measurements of absolute branching fractions of the Xi(+)(c) baryon at Belle. In: Physical Review D, Bd. 100, Nr. 3, 031101

Abstract

We present the first measurements of the absolute branching fractions of Xi(+)(c) decays into Xi(-)pi(+)pi(+) and pK(-)pi(+) final states. Our analysis is based on a data set of (772 +/- 11) x 10(6) B (B) over bar pairs collected at the Upsilon(4S) resonance with the Belle detector at the KEKB e(+)e(-) collider. We measure the absolute branching fraction of (B) over bar (0) -> (Lambda) over bar (-)(c)Xi(+)(c) with the Xi(+)(c) recoiling against (Lambda) over bar (- )(c)in (B) over bar (0) decays resulting in B((B) over bar (0) -> (Lambda) over bar (-)(c)Xi(+)(c)) = [1.16 +/- 0.42(stat.) +/- 0.15(syst.)] x 10(-3). We then measure the product branching fractions B((B) over bar (0) -> (Lambda) over bar (-)(c)Xi(+)(c))B(Xi(+)(c) -> Xi(-)pi(+)pi(+)) and B((B) over bar (0) -> (Lambda) over bar (-)(c)Xi(+)(c))B(Xi(+)(c) -> pK(-)pi(+)). Dividing these product branching fractions by (B) over bar (0) -> (Lambda) over bar (-)(c)Xi(+)(c) yields B(Xi(+)(c) -> Xi(-)pi(+)pi(+)) = [2.86 +/- 1.21(stat.) +/- 0.38(syst.)]% and B(Xi(+)(c) -> pK(-)pi(+)) = [0.45 +/- 0.21(stat.) +/- 0.07(syst.)]%. Our result for B(Xi(+)(c) -> Xi(-)pi(+)pi(+)) can be combined with Xi(+)(c) branching fractions measured relative to Xi(+)(c) -> Xi(-)pi(+)pi(+) to set the absolute scale for many Xi(+)(c) branching fractions.

• Dokumententyp: Zeitschriftenartikel
• Fakultät: Physik
• Themengebiete: 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
• ISSN: 2470-0010
• Sprache: Englisch