Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German
Lai, Y-T; Adachi, I; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V; Aushev, T.; Babu, V; Badhrees, I; Bakich, A. M.; Bansal, V; Behera, P.; Beleno, C.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chang, P.; Chekelian, V; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, S-K; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Di Carlo, S.; Dolezal, Z.; Dong, T.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gelb, M.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Greenwald, D.; Guan, Y.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W-S; Hsu, C-L; Huang, K.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Kaliyar, A. B.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, J. B.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y-J; Lalwani, K.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, J. K.; Lee, J. Y.; Lee, S. C.; Li, C. H.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Liptak, Z.; Liventsev, D.; Lu, P-C; Lubej, M.; Luo, T.; MacNaughton, J.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mori, T.; Mrvar, M.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nath, K. J.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pardi, S.; Park, H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V; Prencipe, E.; Rabusov, A.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M. E.; Shen, C. P.; Shibata, T-A; Shiu, J-G; Solovieva, E.; Staric, M.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vorobyev, V.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M-Z; Wang, P.; Wang, X. L.; Widmann, E.; Won, E.; Yamamoto, H.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V; Zhukova, V; Zhulanov, V (2019): Measurement of branching fraction and final-state asymmetry for the (B)over-bar(0) -> (KSK -/+)-K-0 pi(+/-) decay. In: Physical Review D, Vol. 100, No. 1, 011101
Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

We report a measurement of the branching fraction and final-state asymmetry for the (B) over bar -> (KSK -/+)-K-0 pi(+/-) decays. The analysis is based on a data sample of 711 fb(-1) collected at the gamma(4S) resonance with the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+)e(-) collider. We obtain a branching fraction of (3.60 +/- 0.33 +/- 0.15) x 10(-6) and a final-state asymmetry of (-8.5 +/- 8.9 +/- 0.2)%, where the first uncertainties are statistical and the second are systematic. Hints of peaking structures are found in the differential branching fractions measured as functions of Dalitz variables.

Search for authors
Export