Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Kaliyar, A. B.; Behera, P.; Mohanty, G. B.; Gaur, V; Adachi, I; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aulchenko, V; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V; Badhrees, I; Bahinipati, S.; Bakich, A. M.; Bansal, V; Beleno, C.; Bhardwaj, V; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chekelian, V; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, S-K; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Di Carlo, S.; Dingfelder, J.; Dolezal, Z.; Dong, T.; Drasal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Gang, R.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gelb, M.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Greenwald, D.; Grzymkowska, O.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W-S; Hsu, C-L; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jeon, H. B.; Jia, S.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Kahn, J.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, S. H.; Kimmel, T. D.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y-J; Lee, I. S.; Lee, J. K.; Lee, J. Y.; Lee, S. C.; Levit, D.; Li, C. H.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Luo, T.; MacNaushton, J.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, S.; Mori, T.; Nakao, M.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Ostrowicz, W.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pardi, S.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V; Prasanth, K.; Prencipe, E.; Rabusov, A.; Resmi, P. K.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Sanuki, T.; Savinov, V; Schneider, O.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shen, C. P.; Shibata, T-A; Shiu, J-G; Simon, F.; Solovieva, E.; Staric, M.; Stonier, Z. S.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Varve, K. E.; Vossen, A.; Waheed, E.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M-Z; Wang, P.; Wang, X. L.; Won, E.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V und Zhukova, V (2019): Measurements of branching fraction and direct CP asymmetry in B-+/- -> (KSKSK +/-)-K-0-K-0 and a search for B-+/- -> (KSKS0)-K-0 pi(+/-). In: Physical Review D, Bd. 99, Nr. 3, 031102

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

We study charmless hadronic decays of charged B mesons to the final states (KSKSK +/-)-K-0-K-0 and (KSKS0)-K-0 pi(+/-) using a 711 fb(-1) data sample that contains 772 x 10(6) B (B) over bar pairs and was collected at the Upsilon(4S) resonance with the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+)e(-) ethorne-collider. For B-+/- -> (KSKSK +/-)-K-0-K-0, the measured branching fraction and direct CP asymmetry are [10.42 +/- 0.43(stat) +/- 0.22(syst)] x 10(-6) and [+1.6 +/- 3.9(stat) +/- 0.9(syst)] %, respectively. In the absence of a statistically significant signal for B-+/- -> (KSKS0)-K-0 pi(+/-), we obtain a 90% confidence-level upper limit on its branching fraction as 8.7 x 10(-7).

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten