Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German

Lu, P. -C.; Wang, M. -Z.; Chistov, R.; Chang, P.; Adachi, I.; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Behera, P.; Beleno, C.; Berger, M.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chang, M. -C.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, S. -K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Di Carlo, S.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Drasal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gelb, M.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Guido, E.; Haba, J.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hirose, S.; Hou, W. -S.; Hsu, C. -L.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jeon, H. B.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kaliyar, A. B.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lai, Y. -T.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Gioi, L. Li; Libby, J.; Liventsev, D.; Lubej, M.; Luo, T.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, H. K.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakao, M.; Nanut, T.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Okuno, S.; Ono, H.; Ozaki, H.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pardi, S.; Park, H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Prencipe, E.; Rabusov, A.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shen, C. P.; Shibata, T. -A.; Shiu, J. -G.; Shwartz, B.; Simon, F.; Singh, J. B.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Van Hulse, C.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vorobyev, V.; Vossen, A.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, X. L.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Widmann, E.; Won, E.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V. and Zupanc, A. (2019): Observation of B+ -> p(Lambda)over-barK(+) K- and B+ -> (p)over-bar Lambda K+ K+. In: Physical Review D, Vol. 99, No. 3, 032003

Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

We report the study of B+ -> p (Lambda) over barK(+)K(-) and B+ -> (p) over barK(+)K(+) decays using a 772 x 10(6) B (B) over bar pair data sample recorded on the gamma(4S) resonance with the Belle detector at KEKB. The following branching fractions are measured: B(B+ -> p (Lambda) over barK(+)K(-)) = (4.10(-0.43)(+0.45) +/- 0.50) x 10(-6), B(B+ -> (p) over bar Lambda K+K+) = (3.70(-0.37)(+0.39) +/- 0.44) x 10(-6), B(eta(c) -> p (Lambda) over barK(-) + c.c.) = (2.83(-0.34)(+0.36) +/- 0.35) x 10(-3) and B(B+ -> p (Lambda) over bar phi) = (7.95 +/- 2.09 +/- 0.77) x 10(-7), where c.c. denotes the corresponding charge-conjugation process. The intermediate resonance decays are excluded in the four-body decay measurements. We also find evidence for B(eta(c) -> Lambda(1520)(Lambda) over bar + c.c.) = (3.48 +/- 1.48 +/- 0.46) x 10(-3) and B(B+-> Lambda(1520)(Lambda) over barK(+)) = (2.23 +/- 0.63 +/- 0.25) x 10(-6). No significant signals are found for J/psi -> Lambda(1520)(Lambda) over bar + c.c. and B+ -> (Lambda) over bar (1520)Lambda K+;we set the 90% confidence level upper limits on their decay branching fractions as < 1.80 x 10(-3) and < 2.08 x 10(-6), respectively.

Actions (login required)

View Item View Item