Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German

Kim, J. B.; Won, E.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bahinipati, S.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Behera, P.; Beleno, C.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chang, P.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, S. -K.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Di Carlo, S.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gelb, M.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Greenwald, D.; Guan, Y.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W. -S.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Krokovny, P.; Kulasiri, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lai, Y. -T.; Lalwani, K.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, J. K.; Lee, J. Y.; Lee, S. C.; Li, C. H.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Gioi, L. Li; Libby, J.; Liptak, Z.; Liventsev, D.; Lu, P. -C.; Lubej, M.; Luo, T.; MacNaughton, J.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, H. K.; Mori, T.; Mrvar, M.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nath, K. J.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pardi, S.; Park, H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Prasanth, K.; Prencipe, E.; Rabusov, A.; Resmi, P. K.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Seon, O.; Shen, C. P.; Shibata, T. -A.; Shiu, J. -G.; Solovieva, E.; Staric, M.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M. -Z.; Wang, P.; Wang, X. L.; Widmann, E.; Yamamoto, H.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V. and Zhulanov, V. (2019): Search for CP violation with kinematic asymmetries in the D-0 -> K+K- pi(+)pi(-) decay. In: Physical Review D, Vol. 99, No. 1, 011104

Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

We search for CP violation in the singly-Cabibbo-suppressed decay D-0 -> K+K-pi(+)pi(-) using data corresponding to an integrated luminosity of 988 fb(-1) collected by the Belle detector at the KEKB e(+)e(-). We measure a set of five kinematically dependent CP asymmetries, of which four asymmetries are measured for the first time. The set of asymmetry measurements can be sensitive to CP violation via interference between the different partial-wave contributions to the decay and performed on other pseudoscalar decays. We find no evidence of CP violation.

Actions (login required)

View Item View Item