Yusa, Y.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bahinipati, S.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Behera, P.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Biswal, J.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Choi, S. -K.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Di Carlo, S.; Dong, T. V.; Drasal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Guan, Y.; Haba, J.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hirose, S.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kang, K. H.; Kawasaki, T.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Kuhr, T.; Kumar, R.; Kwon, Y. -J.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Gioi, L. Li; Libby, J.; Liventsev, D.; Lubej, M.; Luo, T.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, H. K.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nanut, T.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pardi, S.; Park, H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Prencipe, E.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M. E.; Shen, C. P.; Shibata, T. -A.; Shiu, J. -G.; Staric, M.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; Usov, Y.; Van Hulse, C.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vorobyev, V.; Vossen, A.; Waheed, E.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M. -Z.; Wang, P.; Won, E.; Ye, H.; Yin, J. H.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V. and Zhulanov, V.
(2019):
Measurement of time-dependent CP violation in B-0 -> K-S(0)pi(0)pi(0) decays.
In: Physical Review D, Vol. 99, No. 1, 011102
Full text not available from 'Open Access LMU'.
Abstract
We report a measurement of time-dependent CP violation in B-0 -> K-S(0)pi(0)pi(0) decays using a data sample of 772 x 10(6) B (B) over bar pairs collected by the Belle experiment running at the (sic)(4S) resonance at the KEKB e(+)e(-) collider. This decay proceeds mainly via a b -> sd (d) triple over dot "penguin" amplitude. The results are sin 2 phi(eff)(1) = 0.92(-0.31)(+0.27) (stat.) +/- 0.11 (syst.) and A = 0.28 +/- 0.21 (stat.) +/- 0.04 (syst.), which are the most precise measurements of CP violation in this decay mode to date. The value for the CP-violating parameter sin 2 phi(eff)(1) is consistent with that obtained using decay modes proceeding via a b -> c (c) over bars "tree" amplitude.
Item Type: |
Journal article
|
Faculties: |
Physics |
Subjects: |
500 Science > 530 Physics |
ISSN: |
2470-0010 |
Language: |
English |
Item ID: |
83000 |
Date Deposited: |
15. Dec 2021, 15:04 |
Last Modified: |
15. Dec 2021, 15:04 |
Actions (login required)
- View Item