Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German
Seong, I. S.; Vahsen, S. E.; Adachi, I; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aulchenko, V; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V; Bakich, A. M.; Bansal, V; Behera, P.; Bhardwaj, V; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chang, P.; Chekelian, V; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Di Carlo, S.; Dingfelder, J.; Dong, T.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gelb, M.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Guido, E.; Haba, J.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Higuchi, T.; Hou, W-S; Hsu, C-L; Huang, K.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jeon, H. B.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kaliyar, A. B.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kröger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumita, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y-J; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Gioi, L. Li; Libby, J.; Liventsev, D.; Lubej, M.; Luo, T.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nanut, T.; Nath, K. J.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Ostrowicz, W.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Park, H.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Prencipe, E.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, G.; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V; Schneider, O.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M. E.; Shen, C. P.; Shibata, T-A; Shiu, J-G; Simon, F.; Solovieva, E.; Stanic, S.; Staric, M.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Usov, Y.; Van Hulse, C.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vossen, A.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Widmann, E.; Won, E.; Yamamoto, H.; Ye, H.; Yelton, J.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zakharov, S.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V; Zhukova, V; Zhulanov, V; Zupanc, A. (2019): Search for a Light CP-odd Higgs Boson and Low-Mass Dark Matter at the Belle Experiment. In: Physical Review Letters, Vol. 122, No. 1, 011801
Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

We report on the first Belle search for a light CP-odd Higgs boson, A(0), that decays into low mass dark matter, chi, in final states with a single photon and missing energy. We search for events produced via the dipion transition (sic)(2S) -> (sic)(1S)pi(+)pi(-), followed by the on-shell process (sic)(1S) -> gamma A(0) with A(0) -> chi chi, or by the off-shell process (sic)(1S) -> gamma chi chi. Utilizing a data sample of 157.3 x 10(6) (sic)(2S) decays, we find no evidence for a signal. We set limits on the branching fractions of such processes in the mass ranges M-A0 < 8.97 GeV/c(2) and M-chi < 4.44 GeV/c(2). We then use the limits on the off-shell process to set competitive limits on WIMP-nucleon scattering in the WIMP mass range below 5 GeV/c(2).

Search for authors
Export