Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Chu, K.; Wang, M. Z.; Adachi, I. Aihara; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aulchenko, V; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bahinipati, S.; Bakich, A. M.; Behera, P.; Beleno, C.; Bennett, J.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Campajola, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chang, P.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, S. K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Di Capua, F.; Di Carlo, S.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W. S.; Hsu, C. L.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jeon, H. B.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kim, D. Y.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kulasiri, R.; Kwon, Y. J.; Lai, Y. T.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Luo, T.; Masuda, M.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakano, T.; Nakao, M.; Nath, K. J.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pang, T.; Pardi, S.; Park, C. W.; Park, H.; Park, S. H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Resmi, P. K.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shen, C. P.; Shiu, J. G.; Solovieva, E.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vossen, A.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, P.; Wang, X. L.; Wiechczynski, J.; Won, E.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V. und Zhulanov, V. (2020): Study of B -> p<(p)over bar>pi pi. In: Physical Review D, Bd. 101, Nr. 5, 052012

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

Using a data sample of 772 x 10(6) B (B) over bar pairs collected on the Upsilon(4S) resonance with the Belle detector at the KEKB asymmetric energy e(+)e(-) collider, we report the observation of B-0 -> p (p) over bar pi(+)pi(-) and the first observation of B+ -> p (p) over bar pi(+)pi(0). We measure a decay branching fraction of (0.83 +/- 0.17 +/- 0.17) x 10(-6) in B-0 -> p (p) over bar pi(+)pi(-) for M pi+pi- < 1.22 GeV/c(2) with a significance of 5.5 standard deviations. The contribution from B-0 -> p (p) over barK(0) is excluded. We measure a decay branching fraction of (4.58 +/- 1.17 +/- 0.67) x 10(-6) for B+ -> p (p) over bar pi(+)pi(0 )with M pi+pi 0 < 1.3 GeV/c(2) with a significance of 5.4 standard deviations. We study the difference of the M-p((p) over bar) distributions in B-0 -> p (p) over bar pi(+)pi(-) and B-0 -> p (p) over bar pi(+)pi(0).

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten