Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Nayak, M.; Cinabro, D.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Beleno, C.; Bennett, J.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Biswal, J.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cunliffe, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; Di Capua, F.; Di Carlo, S.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Grzymkowska, O.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jeon, H. B.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kiesling, C.; Kim, B. H.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, S. H.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, R.; Kwon, Y.-J.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, T. J.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S.-H.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Resmi, P. K.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shebalin, V; Shiu, J.-G.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stanic, S.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Strube, J. F.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Ushiroda, Y.; Usov, Y.; Tonder, R. van; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vinokurova, A.; Vossen, A.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Wang, X. L.; Watanabe, M.; Won, E.; Xu, X.; Yang, S. B.; Ye, H.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V. und Zhulanov, V. (2020): Measurement of the charm-mixing parameter y(CP) in D-0 -> K-S(0)omega decays at Belle. In: Physical Review D, Bd. 102, Nr. 7, 071102

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

We report the first measurement of the charm-mixing parameter y(CP) in D-0 decays to the CP-odd final state K-S(0 omega). The study uses the full Belle e(+)e(-) annihilation data sample of 976 fb(-1) taken at or near the gamma (4S) centre-of-mass energy. We find y(CP) = (0.96 +/- 0.91 +/- 0.62(-0.00)+0.17)%, where the first uncertainty is statistical, the second is systematic due to event selection and background, and the last is due to possible presence of CP-even decays in the data sample.

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten