Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German
Adachi, I.; Ahlburg, P.; Aihara, H.; Akopov, N.; Aloisio, A.; Ky, N. Anh; Asper, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Aushev, V.; Aziz, T.; Babu, V.; Baehr, S.; Bambade, P.; Banerjee, Sw; Bansal, V.; Barrett, M.; Baudot, J.; Becker, J.; Behera, P. K.; Bennett, J. V.; Bernieri, E.; Bernlochner, F. U.; Bertemes, M.; Bessner, M.; Bettarini, S.; Bianchi, F.; Biswas, D.; Bozek, A.; Bracko, M.; Branchini, P.; Briere, R. A.; Browder, T. E.; Budano, A.; Burmistrov, L.; Bussino, S.; Campajola, M.; Cao, L.; Casarosa, G.; Cecchi, C.; Cervenkov, D.; Chang, M.-C.; Cheaib, R.; Chekelian, V.; Chen, Y. Q.; Chen, Y.-T.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Cho, S.; Choi, S.-K.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Corona, L.; Cremaldi, L. M.; Cunliffe, S.; Czank, T.; Dattola, F.; Cruz-Burelo, E. de la; De Nardo, G.; De Nuccio, M.; De Pietro, G.; de Sangro, R.; Destefanis, M.; Dey, S.; De Yta-Hernandez, A.; Di Capua, F.; Dolezal, Z.; Jimenez, I. Dominguez; Dong, T. V.; Dort, K.; Dossett, D.; Dubey, S.; Duell, S.; Dujany, G.; Eidelman, S.; Eliachevitch, M.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Finocchiaro, G.; Fiore, S.; Fodor, A.; Forti, F.; Fulsom, B. G.; Ganiev, E.; Garcia-Hernandez, M.; Garg, R.; Gaur, V.; Gaz, A.; Gellrich, A.; Gemmler, J.; Gessler, T.; Giordano, R.; Giri, A.; Gobbo, B.; Godang, R.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Gomis, P.; Gradl, W.; Graziani, E.; Greenwald, D.; Guan, Y.; Hadjivasiliou, C.; Halder, S.; Hara, T.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hearty, C.; Hedges, M. T.; Heredia de la Cruz, I.; Villanueva, M. Hernandez; Hershenhorn, A.; Higuchi, T.; Hill, E. C.; Hoek, M.; Hsu, C.-L.; Hu, Y.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Jabbar, J. Irakkathil; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jaffe, D. E.; Jang, E-J; Jeon, H. B.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, C.; Joo, K. K.; Kahn, J.; Kakuno, H.; Kaliyar, A. B.; Kandra, J.; Karyan, G.; Kato, Y.; Kawasaki, T.; Kim, B. H.; Kim, C.-H.; Kim, D. Y.; Kim, K.-H.; Kim, S.-.H; Kim, Y. K.; Kim, Y.; Kimmel, T. D.; Kindo, H.; Kleinwort, C.; Kodys, P.; Koga, T.; Kohani, S.; Komarov, I.; Korpar, S.; Kovalchuk, N.; Kraetzschmar, T. M. G.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, J.; Kumar, M.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kurz, S.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lacaprara, S.; La Licata, C.; Lanceri, L.; Lange, J. S.; Lautenbach, K.; Lee, I.-S.; Lee, S. C.; Leitl, P.; Levit, D.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Libby, J.; Lieret, K.; Li Gioi, L.; Liptak, Z.; Liu, Q. Y.; Liventsev, D.; Longo, S.; Luo, T.; Maeda, Y.; Maggiora, M.; Manoni, E.; Marcello, S.; Marinas, C.; Martini, A.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matsuoka, K.; Matvienko, D.; Meggendorfer, F.; Mei, J. C.; Meier, F.; Merola, M.; Metzner, F.; Milesi, M.; Miller, C.; Miyabayashi, K.; Miyake, H.; Mizuk, R.; Azmi, K.; Mohanty, G. B.; Moon, T.; Morii, T.; Moser, H.-G.; Müller, F.; Müller, F. J.; Muller, Th; Muroyama, G.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nayak, M.; Nazaryan, G.; Neverov, D.; Niebuhr, C.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Nishimura, M.; Oberhof, B.; Ogawa, K.; Onishchuk, Y.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Ozaki, H.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Paladino, A.; Panta, A.; Paoloni, E.; Park, H.; Paschen, B.; Passeri, A.; Pathak, A.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Peruzzi, I; Peschke, R.; Pestotnik, R.; Piccolo, M.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Praz, C.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Purohit, M. V.; Rados, P.; Rasheed, R.; Reiter, S.; Remnev, M.; Resmi, P. K.; Ripp-Baudot, I.; Ritter, M.; Rizzo, G.; Rizzuto, L. B.; Robertson, S. H.; Perez, D. Rodriguez; Roney, J. M.; Rosenfeld, C.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sartori, P.; Sato, Y.; Savinov, V; Scavino, B.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Seddon, R. M.; Seino, Y.; Selce, A.; Senyo, K.; Sfienti, C.; Shen, C. P.; Shiu, J-G; Shwartz, B.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Sobie, R. J.; Soffer, A.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Spataro, S.; Spruck, B.; Staric, M.; Stefkova, S.; Stottler, Z. S.; Stroili, R.; Strube, J.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Summers, D. J.; Suzuki, S. Y.; Tabata, M.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanaka, S.; Tanida, K.; Taniguchi, N.; Taras, P.; Tenchini, F.; Torassa, E.; Trabelsi, K.; Tsuboyama, T.; Uchida, M.; Unger, K.; Unno, Y.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S. E.; Tonder, R. van; Varner, G. S.; Varvell, K. E.; Vinokurova, A.; Vitale, L.; Vossen, A.; Wakai, M.; Wakeling, H. M.; Abdullah, W. Wan; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Warburton, A.; Watanabe, M.; Webb, J.; Wehle, S.; Wessel, C.; Wiechczynski, J.; Windel, H.; Won, E.; Yabsley, B.; Yamada, S.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yonenaga, M.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zani, L.; Zhang, Z.; Zhilich, V.; Zhou, Q. D.; Zhou, X. Y.; Zhukova, V. I. (2020): Search for an Invisibly Decaying Z ' Boson at Belle II in e(+)e(-) -> mu(+)mu(-) (e(+/-)mu(-/+)) Plus Missing Energy Final States. In: Physical Review Letters, Vol. 124, No. 14, 141801
Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

Theories beyond the standard model often predict the existence of an additional neutral boson, the Z'. Using data collected by the Belle II experiment during 2018 at the SuperKEKB collider, we perform the first searches for the invisible decay of a Z' in the process e(+)e(-) -> mu(+)mu(-) Z' and of a lepton-flavor-violating Z' in e(+) e(-) -> e(+/-)mu(-/+)Z'. We do not find any excess of events and set 90% credibility level upper limits on the cross sections of these processes. We translate the former, in the framework of an L-mu - L-tau theory, into upper limits on the Z' coupling constant at the level of 5 x 10(-2) - 1 for M-z' <= 6 GeV/c(2).

Search for authors
Export