Dembczyński, Krzysztof; Waegeman, Willem; Cheng, Weiwei und Hüllermeier, Eyke
ORCID: https://orcid.org/0000-0002-9944-4108
(2010):
Regret Analysis for Performance Metrics in Multi-Label Classification: The Case of Hamming and Subset Zero-One Loss.
In: Balcázar, José Luis; Bonchi, Francesco; Gionis, Aristides und Sebag, Michèle (Hrsg.):
Machine Learning and Knowledge Discovery in Databases. European Conference, ECML PKDD 2010, Barcelona, Spain, September 20-24, 2010, Proceedings, Part I. Lecture Notes in Computer Science, Bd. 6321. Berlin, Heidelberg: Springer. S. 280-295
| Dokumententyp: | Buchbeitrag |
|---|---|
| Fakultät: | Mathematik, Informatik und Statistik > Informatik > Künstliche Intelligenz und Maschinelles Lernen |
| Themengebiete: | 000 Informatik, Informationswissenschaft, allgemeine Werke > 004 Informatik |
| ISBN: | 978-3-642-15879-7 ; 978-3-642-15880-3 |
| Ort: | Berlin, Heidelberg |
| Sprache: | Englisch |
| Dokumenten ID: | 91772 |
| Datum der Veröffentlichung auf Open Access LMU: | 05. Apr. 2022, 09:16 |
| Letzte Änderungen: | 05. Apr. 2022, 09:16 |
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