Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Cao, L.; Sutcliffe, W.; Tonder, R. van; Bernlochner, F. U.; Adachi, I.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Belous, K.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Branchini, P.; Browder, T. E.; Budano, A.; Campajola, M.; Chang, M.-C.; Chang, P.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S.-J.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Czank, T.; Dash, N.; De Pietro, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Dingfelder, J.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Dubey, S.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Gu, T.; Gudkova, K.; Halder, S.; Hara, T.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Villanueva, M. Hernandez; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jacobs, W. W.; Jang, E.-J.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kahn, J.; Kang, K. H.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, S. H.; Kim, Y.-K.; Kimmel, T. D.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumar, M.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lee, S. C.; Li, C. H.; Li, J.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mohanty, S.; Mrvar, M.; Nakao, M.; Natochii, A.; Nayak, L.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S.-H.; Passeri, A.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Roehrken, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Rozanska, M.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shen, C. P.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Simon, F.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Uno, S.; Urquijo, P.; Vahsen, S. E.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, E.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Wang, X. L.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Werbycka, O.; Won, E.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V. und Zhukova, V. (2021): Measurement of Differential Branching Fractions of Inclusive B -> X(u)l(+)v(l) Decays. In: Physical Review Letters, Bd. 127, Nr. 26, 261801

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

The first measurements of differential branching fractions of inclusive semileptonic B -> X(u)l(+)v(l) decays are performed using the full Belle data set of 711 fb(-1) of integrated luminosity at the gamma(4S) resonance and for l = e, mu. With the availability of these measurements, new avenues for future shape-function modelindependent determinations of the Cabibbo-Kobayashi-Maskawa matrix element vertical bar V-ub vertical bar, can be pursued to gain new insights in the existing tension with respect to exclusive determinations. The differential branching fractions are reported as a function of the lepton energy, the four-momentum-transfer squared, light-cone momenta, the hadronic mass, and the hadronic mass squared. They are obtained by subtracting the backgrounds from semileptonic B -> X(c)l(+)v(l), decays and other processes, and corrected for resolution and acceptance effects.

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten