Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Guan, Y.; Schwartz, A. J.; Kinoshita, K.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Behera, P.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cervenkov, D.; Chang, M-C; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; De Nardo, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Dingfelder, J.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Gudkova, K.; Hadjivasiliou, C.; Halder, S.; Hara, T.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, C. W.; Joo, K. K.; Kahn, J.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, S. H.; Kim, Y.-K.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kumar, M.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lalwani, K.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Lewis, P.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matvienko, D.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mrvar, M.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pang, T.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S.-H.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Purohit, M. V.; Roehrken, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shen, C. P.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Simon, F.; Singh, J. B.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stanic, S.; Stottler, Z. S.; Sumihama, M.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Tonder, R. van; Varner, G.; Vossen, A.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Wang, X. L.; Watanuki, S.; Werbycka, O.; Won, E.; Xu, X.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V. und Zhukova, V. (2021): Measurement of branching fractions and CP asymmetries for D-s(+) -> K+ (eta, pi(0)) and D-s(+) -> pi(+) (eta,pi(0)) decays at Belle. In: Physical Review D, Bd. 103, Nr. 11, 112005

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

We report measurements of the branching fractions and CP asymmetries for D-s(+) -> K+eta, D-s(+) -> K+ pi(0), and D-s(+) -> pi(+)eta decays, and the branching fraction for D-s(+) -> pi+pi(0). Our results are based on a data sample corresponding to an integrated luminosity of 921 fb(-1) collected by the Belle detector at the KEKB e(+)e(-) asymmetric-energy collider. Our measurements of CP asymmetries in these decays are the most precise to date;no evidence for CP violation is found.

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten