Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Jia, S.; Tang, S. S.; Shen, C. P.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cervenkov, D.; Chang, M. -C.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S. -J.; Choi, S. -K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; De Nardo, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Flood, K.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W. -S.; Hsu, C. -L.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Karyan, G.; Kato, Y.; Kichimi, H.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, K. -H.; Kim, S. H.; Kim, Y. -K.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lalwani, K.; Lange, J. S.; Lee, S. C.; Li, J.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; McNeil, J. T.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S. -H.; Patra, S.; Paul, S.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Sharma, C.; Shiu, J. -G.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, K.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Tonder, R. van; Varner, G.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, M. -Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Werbycka, O.; Won, E.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V. und Zhukova, V. (2021): Measurements of branching fractions and asymmetry parameters of Xi(0)(c) -> Lambda(K)over-bar*(0), Xi(0)(c) -> Sigma(0)(K)over-bar*(0), and Xi(0)(c) -> Sigma(+) K*(-) decays at Belle. In: Journal of High Energy Physics, Nr. 6, 160

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

Using a data sample of 980 fb(-1) collected with the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+) e(-) collider, we study the processes of Xi(0)(c) -> Lambda(K) over bar*(0), Xi(0)(c) -> Sigma(0)(K) over bar*(0), and Xi(0)(c) -> Sigma(+) K*(-) for the first time. The relative branching ratios to the normalization mode of Xi(0)(c) -> Xi(-)pi(+) are measured to be B(Xi(0)(c) -> Lambda(K) over bar*(0)/B(Xi(0)(c) -> Xi(-)pi(+)) = 0.18 +/- 0.02(stat.) +/- 0.01(syst.), B(Xi(0)(c) -> Sigma(0)(K) over bar*(0)/B(Xi(0)(c) -> Xi(-)pi(+)) = 0.69 +/- 0.03(stat.) +/- 0.03(syst.), B(Xi(0)(c) -> Sigma K+*(-)/B(Xi(0)(c) -> Xi(-)pi(+)) = 0.34 +/- 0.06(stat.) +/- 0.02(syst.), where the uncertainties are statistical and systematic, respectively. We obtain B(Xi(0)(c) -> Lambda(K) over bar*(0)) = (3.3 +/- 0.3(stat.) +/- 0.2(syst.) +/- 1.0(ref.)) x 10(-3), B(Xi(0)(c) -> Sigma(0)(K) over bar*(0)) = (12.4 +/- 0.5(stat.) +/- 0.5(syst.) +/- 3.6(ref.)) x 10(-3), B(Xi(0)(c) -> Sigma K+*(-)) = (6.1 +/- 1.0(stat.) +/- 0.4(syst.) +/- 1.8(ref.)) x 10(-3), where the uncertainties are statistical, systematic, and from B(Xi(0)(c) -> Xi(-)pi(+)), respectively. The asymmetry parameters alpha(Xi(0)(c) -> Lambda(K) over tilde*(0)) and alpha(Xi(0)(c) -> Sigma K+*(-)) are 0.15 +/- 0.22(stat.) +/- 0.04(syst.) and -0.52 +/- 0.30(stat.) +/- 0.02(syst.), respectively, where the uncertainties are statistical followed by systematic.

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten