Logo Logo
Hilfe
Hilfe
Switch Language to English

Kang, K. H.; Park, H.; Higuchi, T.; Miyabayashi, K.; Sumisawa, K.; Adachi, I.; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Bakich, A. M.; Behera, P.; Beleno, C.; Bennett, J.; Bhardwaj, V.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chang, M-C; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, S-K; Choi, Y.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Greenwald, D.; Guan, Y.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Villanueva, M. Hernandez; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jang, E.-J.; Jeon, H. B.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, K.-H.; Kim, S. H.; Kim, Y.-K.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Li, J.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; MacNaughton, J.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, T. J.; Mori, T.; Morii, T.; Mrvar, M.; Mussa, R.; Nakao, M.; Nakazawa, H.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, S.-H.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Purohit, M. V.; Ritter, M.; Roehrken, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Rozanska, M.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Shebalin, V.; Shiu, J-G; Solovieva, E.; Stanic, S.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Ushiroda, Y.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vorobyev, V.; Wang, C. H.; Wang, E.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Wang, X. L.; Watanuki, S.; Won, E.; Xu, X.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V. und Zhulanov, V. (2021): Measurement of time-dependent CP violation parameters in B-0 -> (KSKSKS0)-K-0-K-0 decays at Belle. In: Physical Review D, Bd. 103, Nr. 3, 32003

Volltext auf 'Open Access LMU' nicht verfügbar.

Abstract

We measure the time-dependent CP violation parameters in B-0 -> (KSKSKS0)-K-0-K-0 decays using 772 x 10(6)B (B) over bar pairs collected at the Upsilon(4S) resonance with the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+)e(-) collider. The obtained mixing-induced and direct CP asymmetries are -0.71 +/- 0.23 (stat) +/- 0.05 (syst) and 0.12 +/- 0.16 (stat) +/- 0.05 (syst), respectively. These values are consistent with the Standard Model predictions. The significance of CP violation differs from zero by 2.5 standard deviations.

Dokument bearbeiten Dokument bearbeiten