Logo Logo
Help
Contact
Switch Language to German

Lee, J. Y.; Tanida, K.; Kato, Y.; Kim, S. K.; Yang, S. B.; Adachi, I.; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Beleno, C.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Chang, M-C; Chang, P.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, S-K; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; De Nardo, G.; Di Capua, F.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Hadjivasiliou, C.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Villanueva, M. Hernandez; Hsu, C.-L.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jacobs, W. W.; Jang, E.-J.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, C. W.; Joo, K. K.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, B. H.; Kim, D. Y.; Kim, K.-H.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kim, Y. J.; Kim, Y.-K.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lee, S. C.; Li, C. H.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liptak, Z.; Liventsev, D.; Luo, T.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, T. J.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakano, T.; Nakao, M.; Natochii, A.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, K.; Ogawa, S.; Olsen, S. L.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, S.-H.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seidl, R.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Shebalin, V.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stottler, Z. S.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tenchini, F.; Uchida, M.; Uglov, T.; Uno, S.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Tonder, R. van; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vorobyev, V.; Vossen, A.; Wang, C. H.; Wang, E.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Wehle, S.; Wiechczynski, J.; Xu, X.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Ye, H.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V. and Zhulanov, V. (2021): Measurement of branching fractions of Delta(+)(c) -> eta Lambda pi(+), eta Sigma(0)pi(+), Lambda(1670)pi(+), and eta Sigma(1385)(+). In: Physical Review D, Vol. 103, No. 5, 52005

Full text not available from 'Open Access LMU'.

Abstract

We report branching fraction measurements of four decay modes of the Lambda(+)(c) baryon, each of which includes an eta meson and a Lambda baryon in the final state, and all of which are measured relative to the Lambda(+)(c) -> pK(-) eta(+) decay mode. The results are based on a 980 fb(-1) data sample collected by the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e(+) e(-) collider. Two decays, Lambda(+)(c) -> eta Sigma(0)pi(+) and Lambda(1670)pi(+), are observed for the first time, while the measurements of the other decay modes, Lambda(+)(c) -> eta Lambda pi(+) and eta Sigma(1385)(+), are more precise than those made previously. We obtain relative branching fractions of B(Lambda(+)(c) -> eta Lambda pi(+)) / B(Lambda(+)(c) -> pK(-) pi(+)) = 0.293 +/- 0.003 +/- 0.014, B(Lambda(+)(c) -> eta Sigma(0)pi(+))/B(Lambda(+)(c) -> pK(-) pi(+)) = 0.120 +/- 0.006 +/- 0.010, B(Lambda(+)(c) -> Lambda(1670)pi(+)) x B(Lambda(1670) -> eta Lambda)/B(Lambda(+)(c) -> pK(-) pi(+)) = (5.54 +/- 0.29 +/- 0.73) x 10(-2), and B(Lambda(+)(c) -> eta Sigma(1385)(+))/B(Lambda(+)(c) -> pK(-) pi(+)) = 0.192 +/- 0.006 +/- 0.016. The mass and width of the Lambda(1670) are also precisely determined to be 1674.3 +/- 0.8 +/- 4.9 MeV/c(2) and 36.1 +/- 2.4 +/- 4.8 MeV, respectively, where the uncertainties are statistical and systematic, respectively.

Actions (login required)

View Item View Item