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Zeitschriftenartikel
Chew, S. H.; Gliserin, A.; Schmidt, J.; Bian, H.; Nobis, S.; Schertz, F.; Kübel, M.; Yang, Y.-Y.; Loitsch, B.; Stettner, T.; Finley, J. J.; Späth, C.; Ouacha, H.; Azzeer, A. M. und Kleineberg, U.
(2016):
Laser intensity effects in carrier-envelope phase-tagged time of flight-photoemission electron microscopy.
In: Applied Physics B: Lasers and Optics, Bd. 122, Nr. 4, 102