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Anzahl der Publikationen: 1
Konferenzbeitrag
Kappelhoff, Fynn; Rasche, Rasmus; Mukhopadhyay, Debdeep und Rührmair, Ulrich
(2022):
Strong PUF Security Metrics: Response Sensitivity to Small Challenge Perturbations.
23rd International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), Santa Clara, CA, USA, 06-07 April 2022.
In: 2022 23rd International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED),
Piscataway, NJ, USA: IEEE. S. 1-10