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Zeitschriftenartikel
Lidig, Christian; Minar, Jan; Braun, Jürgen; Ebert, Hubert; Gloskovskii, Andrei; Krieger, Jonas A.; Strocov, Vladimir; Klaeui, Mathias und Jourdan, Martin
(2019):
Surface resonance of thin films of the Heusler half-metal Co2MnSi probed by soft x-ray angular resolved photoemission spectroscopy.
In: Physical Review B, Bd. 99, Nr. 17, 174432