|
Eine Ebene nach oben |
Gruppiert nach:
Dokumententyp
| Veröffentlichungsdatum
Springe zu: Zeitschriftenartikel
Anzahl der Publikationen: 1
Zeitschriftenartikel
Caria, G.; Urquijo, P.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bahinipati, S.; Bakich, A. M.; Behera, P.; Beleno, C.; Bennett, J.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cervenkov, D.; Chang, P.; Cheaib, R.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; Di Capua, F.; Di Carlo, S.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Greenwald, D.; Grzymkowska, O.; Guan, Y.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Higuchi, T.; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jeon, H. B.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krohn, J-F; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, R.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, J. K.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Luo, T.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Mohanty, G. B.; Moon, T. J.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakamura, K. R.; Nakao, M.; Nath, K. J.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, K.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pang, T.; Park, H.; Park, S.-H.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rabusov, A.; Resmi, P. K.; Ritter, M.; Rozanska, M.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shebalin, V; Shiu, J-G; Shwartz, B.; Simon, F.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Uno, S.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vossen, A.; Waheed, E.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M-Z; Wang, P.; Wang, X. L.; Watanuki, S.; Wiechczynski, J.; Won, E.; Yamamoto, H.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V. und Zhulanov, V.
(2020):
Measurement of R(D) and R(D*) with a Semileptonic Tagging Method.
In: Physical Review Letters, Bd. 124, Nr. 16, 161803