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Gruppiert nach: Dokumententyp | Veröffentlichungsdatum
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Anzahl der Publikationen: 1

2022

Mamaikin, Mikhail; Li, Yik-Long; Ridente, Enrico; Chen, Wei Ting; Park, Joon-Suh; Zhu, Alexander Y.; Capasso, Federico; Weidman, Matthew; Schultze, Martin; Krausz, Ferenc und Karpowicz, Nicholas (2022): Electric-field-resolved near-infrared microscopy. In: Optica, Bd. 9, Nr. 6: S. 616-622

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