Anzahl der Publikationen: 2
Zeitschriftenartikel
Geiger, Michael; Schwarz, Lukas; Zschieschang, Ute; Manske, Dirk; Pflaum, Jens; Weis, Jürgen; Klauk, Hagen und Weitz, Ralf Thomas
(2018):
Quantitative Analysis of the Density of Trap States in Semiconductors by Electrical Transport Measurements on Low-Voltage Field-Effect Transistors.
In: Physical Review Applied, Bd. 10, Nr. 4, 44023
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Sat Aug 10 21:08:17 2024 CEST
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